Universidade de Lisboa (ULISBOA)
University of Lisbon
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 39055
813 Team MembersFilters -> Year: 2026
AUTORES: Kukushkin, VY; Pakhomova, TB; Bokach, NA; Wagner, G; Kuznetsov, ML; Galanski, M; Pombeiro, AJL ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: INORGANIC CHEMISTRY, VOLUME: 39, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 216-225
AUTORES: Silva, JP ; Soffer, A;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: PHYSICAL REVIEW D, VOLUME: 61, NÚMERO: 11, PÁGINAS: 1-14
AUTORES: Vieira, M ; Fernandes, M ; Martins, J; Louro, P ; Macarico, A; Schwarz, R ; Schubert, M;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Amorphous and Heterogeneus Silicon Thin Films-2000 in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 609
AUTORES: Roma, N ; Sousa, L ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 5th IEEE International Workshop on Computer Architectures for Machine Perception (CAMP 2000) in 5TH INTERNATIONAL WORKSHOP ON COMPUTER ARCHITECTURES FOR MACHINE PERCEPTION, PROCEEDINGS, PÁGINAS: 170-179
AUTORES: Silvestre, N ; Camotim, D ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Proceedings - 2000 Annual Technical Session, and Meeting, Structural Stability Research Council in Proceedings - Annual Technical Session, Structural Stability Research Council, PÁGINAS: 89-103
AUTORES: Almeida, MC; Butler, D; Matos, JS ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Urban Water, VOLUME: 2, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 327-334
AUTORES: Abreu, P ; Adam, W; Adye, T; Adzic, P; Ajinenko, I; Albrecht, Z; Alderweireld, T; Alekseev, GD; Alemany, R; Allmendinger, T; Allport, PP; Almehed, S; Amaldi, U; Amapane, N; Amato, S; Anassontzis, EG; Andersson, P; Andreazza, A; Andringa, S; Antilogus, P; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Physics Letters, Section B: Nuclear, Elementary Particle and High-Energy Physics, VOLUME: 475, NÚMERO: 3-4, PÁGINAS: 429-447
CrossRefAUTORES: Conde, O ; Silvestre, AJ ; Oliveira, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 1999 E-MRS Conference, Symposium B: Protective Coatings and Thin Films in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 125, NÚMERO: 1-3, PÁGINAS: 141-146
AUTORES: Soares, LD ; Adachi, S; Pereira, F ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IEEE International Conference on Image Processing (ICIP 2000) in 2000 INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING, VOL II, PROCEEDINGS, PÁGINAS: 148-151
AUTORES: Ducla Soares, L; Adachi, S; Pereira, F ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: International Conference on Image Processing (ICIP 2000) in IEEE International Conference on Image Processing, VOLUME: 2, PÁGINAS: 148-151
AUTORES: Alegria, FC ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2000) in 2000 CONFERENCE ON PRECISION ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS DIGEST, PÁGINAS: 585-586
AUTORES: Branco, PJC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: System and Control: Theory and Applications, PÁGINAS: 403-408
AUTORES: McHargue, CJ; Hunn, JD; Alves, E ; da Silva, MF; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 10th International Conference on Radioation Effects in Insulators (REI-10) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 166, PÁGINAS: 188-192
AUTORES: Pires, I ; Quintino, L; Rangel, CM; Thompson, GE; Skeldon, P; Zhou, X;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: TRANSACTIONS OF THE INSTITUTE OF METAL FINISHING, VOLUME: 78, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 179-185
AUTORES: Cardoso, S ; Ferreira, R; Freitas, PP; Wei, P; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 76, NÚMERO: 25, PÁGINAS: 3792-3794
AUTORES: Alves, E ; Alves, LC ; da Silva, MF; Melo, AA; Soares, JC; Scaffidi Argentina, F;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 4th International Workshop on Beryllium Technology for Fusion in FUSION TECHNOLOGY, VOLUME: 38, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 320-325
AUTORES: Maldonado, FJ; Becue, T; Silva, JM; Ribeiro, MF ; Massiani, P; Kermarec, M;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: JOURNAL OF CATALYSIS, VOLUME: 195, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 342-351
AUTORES: Fantoni, A ; Vieira, M ; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Amorphous and Heterogeneus Silicon Thin Films-2000 in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 609
AUTORES: Waerenborgh, JC ; Salamakha, P; Sologub, O; Goncalves, AP ; Cardoso, C; Serio, S ; Godinho, M ; Almeida, M ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: CHEMISTRY OF MATERIALS, VOLUME: 12, NÚMERO: 6, PÁGINAS: 1743-1749
AUTORES: Vieira, M ; Fantoni, A ; Fernandes, M ; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: International Workshop on Semiconducting and Superconducting Materials in PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES, VOLUME: 80, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 755-764