Instituto Superior Técnico
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
Only validated by team members publications are included.
Only the current year team is included in this action.>
The action is executed in the background, thus the results are NOT immediate.
This actions can be executed only once a month!
Only validated by current year team members publications are included.
The action is executed in the background, thus the results are NOT immediate.
This actions can be executed only once a day!
Publications Count: 38302
722 Team MembersFilters -> Year: 2026
AUTORES: Soares, V; Verdelho, P; Marques, G ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 28th Annual IEEE Power Electronics Specialists Conference (PESC 97) in PESC'97: 28TH ANNUAL IEEE POWER ELECTRONICS SPECIALISTS CONFERENCE - RECORD, VOLS I AND II, VOLUME: 2, PÁGINAS: 1096-1101
AUTORES: Figueiredo, MAT ; Leitao, JMN ; Jain, AK;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1997 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR 97) in 1997 IEEE COMPUTER SOCIETY CONFERENCE ON COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION, PROCEEDINGS, PÁGINAS: 724-730
AUTORES: Coito, F ; Lemos, JM ; Silva, RN; Mosca, E;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF ADAPTIVE CONTROL AND SIGNAL PROCESSING, VOLUME: 11, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 327-342
AUTORES: Figueiredo, MAT ; Leitao, JMN; Jain, AK;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: International Workshop on Energy Minimization Methods in Computer Vision and Pattern Recognition in ENERGY MINIMIZATION METHODS IN COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION, PROCEEDINGS, VOLUME: 1223, PÁGINAS: 35-50
AUTORES: Figueiredo, MAT ; LeitĀo, JMN; Jain, AK;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: International Workshop on Energy Minimization Methods in Computer Vision and Pattern Recognition, EMMCVPR 1997 in Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics), VOLUME: 1223, PÁGINAS: 35-50
CrossRefAUTORES: Ilharco, LM ; Martins, C; Fedorov, A ; Martinho, JMG ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: CHEMICAL PHYSICS LETTERS, VOLUME: 277, NÚMERO: 1-3, PÁGINAS: 51-56
AUTORES: Campos, LMBC ; Gil, PJS ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 31st ESLAB Symposium on Correlated Phenomena at the Sun, in the Heliosphere and in Geospace in 31ST ESLAB SYMPOSIUM ON CORRELATED PHENOMENA AT THE SUN, IN THE HELIOSPHERE AND IN GEOSPACE, VOLUME: 415, NÚMERO: 415, PÁGINAS: 313-318
AUTORES: Horta, NC ; Franca, JE;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, VOLUME: 16, NÚMERO: 10, PÁGINAS: 1116-1135
AUTORES: Barradas, NP ; Maas, AJH; Mandl, S; Gunzel, R;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 81, NÚMERO: 10, PÁGINAS: 6642-6650
AUTORES: Carvalho, D; Cardoso, S ; Vilar, R ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: SCRIPTA MATERIALIA, VOLUME: 37, NÚMERO: 4, PÁGINAS: 523-527
AUTORES: Conde, JP ; Schotten, V; Arekat, S; Brogueira, P ; Sousa, R; Chu, V ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, VOLUME: 36, NÚMERO: 1A, PÁGINAS: 38-49
AUTORES: Conde, JP ; Brogueira, P ; Chu, V ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES, VOLUME: 76, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 299-308
AUTORES: Chu, V ; Jarego, J; Silva, H; Silva, T; Boucinha, M; Brogueira, P ; Conde, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium on Amorphous and Microcrystalline Silicon Technology in AMORPHOUS AND MICROCRYSTALLINE SILICON TECHNOLOGY - 1997, VOLUME: 467, PÁGINAS: 905-910
AUTORES: Conde, JP ; Chu, V; Giorgis, F; Pirri, CF; Arekat, S;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Proceedings of the 1997 MRS Spring Symposium in Materials Research Society Symposium - Proceedings, VOLUME: 467, PÁGINAS: 627-632
AUTORES: Tome, JPC ; Tome, AC ; Neves, MGPMS ; Cavaleiro, JAS ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: TETRAHEDRON LETTERS, VOLUME: 38, NÚMERO: 15, PÁGINAS: 2753-2756
AUTORES: Mauricio, AM ; Pacheco, AMG ; Brito, PSD ; Rodrigues, LF; Aires Barros, LA;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 5th International Conference on Air Pollution - Modelling, Monitoring and Management (AIR POLLUTION V) in AIR POLLUTION V, PÁGINAS: 819-828
AUTORES: deBrito, J ; Branco, FA ; ThoftChristensen, P; Sorensen, JD;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: ENGINEERING STRUCTURES, VOLUME: 19, NÚMERO: 7, PÁGINAS: 519-526
AUTORES: Lima, P ; Diogo, T ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Volterra Centennial at the 2nd International Conference on the Numerical Solution of Volterra and Delay Equations in APPLIED NUMERICAL MATHEMATICS, VOLUME: 24, NÚMERO: 2-3, PÁGINAS: 131-148
AUTORES: Colla, D; Petersen, SB; Martins, PAF ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF MECHANICAL SCIENCES, VOLUME: 39, NÚMERO: 5, PÁGINAS: 507-&
AUTORES: Cruzeiro, AB ; Fang, SZ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: JOURNAL OF FUNCTIONAL ANALYSIS, VOLUME: 143, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 400-414