Instituto Superior Técnico
Uma Instituição (Grupo) no Authenticus é uma organização que engloba um conjunto de Investigadores (equipa da Instituição ou do Grupo). O conjunto de Investigadores depende da estrutura organizacional da instituição em cada ano e pode ser definido no perfil da Instituição, na secção “Investigadores”. Com base na equipa definida, o Authenticus produz listas de publicações, estatísticas e relatórios institucionais.
As publicações listadas no perfil da Instituição no Authenticus dependem de dois parâmetros:
- Investigadores associados à equipa da Instituição em cada ano.
- Origem das Publicações.
As publicações associadas à Instituição podem ter três origens:
- Publicações validadas pelos membros da equipa - Inclui todas as publicações validadas pelos membros da equipa; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Todas as Publicadas pelos membros da equipa - Inclui todas as anteriores mais aquelas em que um dos autores foi identificado com um membro da equipa, ainda que não tenha sido validada; é necessário que a equipa da Instituição esteja definida.
- Com Base na Afiliação - inclui todas as publicações que têm a Instituição ou o Grupo mencionado na afiliação; não é necessário que a equipa da Instituição esteja definida mas, por outro lado, não é garantido que todas as publicações da Instituição sejam listadas.
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Publications Count: 38312
722 Team MembersFilters -> Year: 2026
AUTORES: Teixeira, MJ; Fernandes, AC; Saramago, B ; Rosa, ME ; Bordado, JC ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: JOURNAL OF ADHESION SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 10, NÚMERO: 11, PÁGINAS: 1111-1127
AUTORES: Brogueira, P ; deDeus, JD ; daSilva, IP ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: PHYSICAL REVIEW D, VOLUME: 53, NÚMERO: 9, PÁGINAS: 5283-5285
AUTORES: Almeida, RM ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: PHYSICAL REVIEW B, VOLUME: 53, NÚMERO: 21, PÁGINAS: 14656-14658
AUTORES: BerberanSantos, MN; Bodunov, EN; Martinho, JMG ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: OPTIKA I SPEKTROSKOPIYA, VOLUME: 81, NÚMERO: 1, PÁGINAS: 70-78
AUTORES: Cardoso, GL ; Curio, G; Lust, D; Mohaupt, T;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Physics Letters, Section B: Nuclear, Elementary Particle and High-Energy Physics, VOLUME: 382, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 241-250
CrossRefAUTORES: Goncalves, FM ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 1996 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems in 1996 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS, PÁGINAS: 96-104
AUTORES: Coutinho, A; Prieto, M ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: PROGRESS IN BIOPHYSICS & MOLECULAR BIOLOGY, VOLUME: 65
AUTORES: daSilva, AMG; Filipe, EJM ; dOliveira, JMR; Martinho, JMG ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: LANGMUIR, VOLUME: 12, NÚMERO: 26, PÁGINAS: 6547-6553
AUTORES: Leitao Jose, MN; Figueiredo Mario, AT ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Proceedings of the 1995 IEEE International Conference on Image Processing. Part 3 (of 3) in IEEE International Conference on Image Processing, VOLUME: 2, PÁGINAS: 453-456
AUTORES: Cote, P; van Craenenbroeck, W; Meeus, P; Weirun Zhang; Bersillon, JL; Gierlich, HH; Natarajan, P; Taniguchi, Y; Schippers, JC; Unum, A; Mathiesen, A; Geraldes, VM ; Norberta de Pinho, M ; Ericsson, B; Tragardh, G;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Proceedings of the 1995 20th International Water Supply Congress and Exhibition in Water Supply, VOLUME: 14, NÚMERO: 3-4, PÁGINAS: 289-301
AUTORES: Costa Branco, PJ ; Dente, JA;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: Intelligent Engineering Systems Through Artificial Neural Networks, VOLUME: 6, PÁGINAS: 237-242
AUTORES: Kling, A ; Rebouta, L ; Marques, JG ; Correia, JG ; daSilva, MF; Dieguez, E; AgulloLopez, F; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 12th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-12) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 118, NÚMERO: 1-4, PÁGINAS: 622-625
AUTORES: McHargue, CJ; Joslin, DL; White, CW; daSilva, MF; Alves, E ; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 9th International Conference on Surface Modification of Metals by Ion Beams (SMMIB 95) in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 83, NÚMERO: 1-3, PÁGINAS: 151-155
AUTORES: Santana, FMC; Fialho, AM ; SaCorreia, I ; Empis, JMA;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: JOURNAL OF INDUSTRIAL MICROBIOLOGY, VOLUME: 17, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 110-115
AUTORES: Ribeiro, MR ; Portela, MF; Deffieux, A; Cramail, H; Rocha, MF;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: MACROMOLECULAR RAPID COMMUNICATIONS, VOLUME: 17, NÚMERO: 7, PÁGINAS: 461-469
AUTORES: Ascenso, JR ; Dias, AR ; Gomes, PT ; Romao, CC ; Tkatchenko, I; Revillon, A; Pham, QT;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: MACROMOLECULES, VOLUME: 29, NÚMERO: 12, PÁGINAS: 4172-4179
AUTORES: Borges, JE; Gato, LMC ; Pereira, RMRJ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: COMPUTERS & FLUIDS, VOLUME: 25, NÚMERO: 2, PÁGINAS: 197-216
AUTORES: Abreu, P ; Adam, W; Adye, T; Agasi, E; Aleksan, R; Alekseev, GD; Alemany, R; Allport, PP; Alhemed, S; Amaldi, U; Amato, S; Andreazza, A; Andrieux, ML; Antilogus, P; Apel, WD; Arnoud, Y; Asman, B; Augustin, JE; Augustinus, A; Baillon, P; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: PHYSICS LETTERS B, VOLUME: 379, NÚMERO: 1-4, PÁGINAS: 330-340
AUTORES: Castellar, MR; Taipa, MA; Cabral, JMS ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: APPLIED BIOCHEMISTRY AND BIOTECHNOLOGY, VOLUME: 61, NÚMERO: 3, PÁGINAS: 299-314
AUTORES: Ribeiro, MR ; Deffieux, A; Fontanille, M; Portela, MF;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: EUROPEAN POLYMER JOURNAL, VOLUME: 32, NÚMERO: 7, PÁGINAS: 811-819