61
TÍTULO: 3 dimensional polymorphous silicon based metal-insulator-semiconductor position sensitive detectors  Full Text
AUTORES: Aguas, H ; Pereira, S; Costa, D; Barquinha, P ; Pereira, L ; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 5th Symposium on Thin Films for Large Area Electronics held at the EMRS 2006 Spring Meeting in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 515, NÚMERO: 19
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TÍTULO: Advanced materials for the next generation of thin film transistors
AUTORES: Elvira Fortunato ; Pedro Barquinha ; Luis Pereira ; Gongalo Goncalves; Rodrigo Martins ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 7th International Display Manufacturing Conference (IDMC 07) in IDMC'07: PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL DISPLAY MANUFACTURING CONFERENCE 2007
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TÍTULO: Amorphous IZO TTFTs with saturation mobilities exceeding 100 cm(2)/Vs  Full Text
AUTORES: Fortunato, E ; Barquinha, P ; Pimentel, A ; Pereira, L ; Goncalves, G; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: PHYSICA STATUS SOLIDI-RAPID RESEARCH LETTERS, VOLUME: 1, NÚMERO: 1
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TÍTULO: Characterization of nickel induced crystallized silicon by spectroscopic ellipsornetry
AUTORES: Luis Pereira ; Hugo Aguas ; Manfred Beckers; Rui M S Martins ; Elvira Fortunato ; Rodrigo Martins ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: Symposium on Amorphous and Polycrystalline Thin-Film Silicon Science and Technology held at the 2006 MRS Spring Meeting in AMORPHOUS AND POLYCRYSTALLINE THIN-FILM SILICON SCIENCE AND TECHNOLOGY 2006, VOLUME: 910
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65
TÍTULO: Corrigendum to "Nickel assisted metal induced crystallization of silicon: Effect of native silicon oxide layer"  Full Text
AUTORES: Pereira, L ; Martins, RMS ; Schell, N; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 516, NÚMERO: 1
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66
TÍTULO: Effect of annealing temperature on the properties of IZO films and IZO based transparent TFTs  Full Text
AUTORES: Barquinha, P ; Goncalves, G; Pereira, L ; Martins, R ; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 1st International Symposium on Transparent Conducting Oxides in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 515, NÚMERO: 24
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67
TÍTULO: In-situ study of Ni-Ti thin film growth on a TiN intermediate layer by X-ray diffraction  Full Text
AUTORES: Martins, RMS ; Schell, N; Silva, RJC ; Pereira, L ; Mahesh, KK; Braz Fernandes, FMB ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: Symposium on Functional Materials for Micro and Nanosystems in SENSORS AND ACTUATORS B-CHEMICAL, VOLUME: 126, NÚMERO: 1
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TÍTULO: Influence of post-annealing temperature on the properties exhibited by ITO, IZO and GZO thin films  Full Text
AUTORES: Goncalves, G; Elangovan, E; Barquinha, P ; Pereira, L ; Martins, R ; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 1st International Symposium on Transparent Conducting Oxides in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 515, NÚMERO: 24
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TÍTULO: Role of order and disorder in covalent semiconductors and ionic oxides used to produce thin film transistors  Full Text
AUTORES: Martins, R ; Barquinha, P ; Pereira, L ; Ferreira, I ; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, VOLUME: 89, NÚMERO: 1
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70
TÍTULO: Role of order and disorder on the electronic performances of oxide semiconductor thin film transistors  Full Text
AUTORES: Martins, R ; Barquinha, P ; Ferreira, I ; Pereira, L ; Goncalves, G; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 101, NÚMERO: 4
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