281
TÍTULO: RBS analysis of AlGaSb thin films  Full Text
AUTORES: Barradas, NP ; Alves, E ; Ruiz, CM; Dieguez, E; Dimroth, F; Chenot, MA; Bett, A;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 16th International Conference on Ion Beam Analysis in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 219, NÚMERO: 1-4
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282
TÍTULO: Roughness in GaN/InGaN films and multilayers determined with Rutherford backscattering  Full Text
AUTORES: Barradas, NP ; Alves, E ; Pereira, S ; Shvartsman, VV; Kholkin, AL ; Pereira, E; O'Donnell, KP; Liu, C; Deatcher, CJ; Watson, IM; Mayer, M;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 217, NÚMERO: 3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 28
283
TÍTULO: Stabilization of ZrO2PVD coatings with Gd2O3  Full Text
AUTORES: Portinha, A; Teixeira, V ; Carneiro, J ; Costa, MF ; Barradas, NP ; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2004, FONTE: 31st International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films in SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, VOLUME: 188, NÚMERO: 1-3 SPEC.ISS.
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284
TÍTULO: A training algorithm for classification of high-dimensional data  Full Text
AUTORES: Vieira, A; Barradas, N ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: NEUROCOMPUTING, VOLUME: 50
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285
TÍTULO: Advanced data analysis techniques for ion beam analysis  Full Text
AUTORES: Barradas, NP ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: Workshop on Modern Surface Analytical Techniques in SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, VOLUME: 35, NÚMERO: 9
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286
TÍTULO: Artificial neural network analysis of RBS data with roughness: Application to Ti0.4Al0.6N/Mo multilayers  Full Text
AUTORES: Ohl, G; Matias, V; Vieira, A; Barradas, NP ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 211, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS
288
TÍTULO: Determination of the composition of light thin films with artificial neural network analysis of Rutherford backscattering experiments
AUTORES: Matias, V; Öhl, G; Soares, JC; Barradas, NP ; Vieira, A; Cardoso, S; Freitas, PP;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: Physical Review E - Statistical Physics, Plasmas, Fluids, and Related Interdisciplinary Topics, VOLUME: 67, NÚMERO: 4
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289
TÍTULO: Elemental thin film depth profiles by ion beam analysis using simulated annealing - a new tool  Full Text
AUTORES: Jeynes, C; Barradas, NP ; Marriott, PK; Boudreault, G; Jenkin, M; Wendler, E; Webb, RP;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 36, NÚMERO: 7
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290
TÍTULO: Graded selective coatings based on chromium and titanium oxynitride  Full Text
AUTORES: Nunes, C; Teixeira, V ; Prates, ML; Barradas, NP ; Sequeira, AD;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 4th International Conference on Coatings on Glass in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 442, NÚMERO: 1-2
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