Pedro Miguel Pinto Ramos


AuthID: R-000-F0Z

Publicações Confirmadas: 153



11
TÍTULO: How Signal Processing is Changing Impedance Spectroscopy
AUTORES: Ramos, PM ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 2018 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2018 in 2018 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE (I2MTC): DISCOVERING NEW HORIZONS IN INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
12
TÍTULO: On the importance of magnetic material characterization for the design of particle accelerator magnets
AUTORES: Anglada, JR; Arpaia, P; Buzio, M; Liccardo, A; Parrella, A; Pentella, M; Ramos, PM ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: 22nd World Congress of the International Measurement Confederation, IMEKO 2018 in Journal of Physics: Conference Series, VOLUME: 1065, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 2
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
13
TÍTULO: Threshold estimation for least-squares fitting in impedance spectroscopy
AUTORES: Janeiro, FM ; Ramos, PM ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 124
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 3
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
14
TÍTULO: A portable embedded contactless system for the measurement of metallic material conductivity and lift-off
AUTORES: Rodrigues, NM; Rosado, LS; Ramos, PM ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: 21st IMEKO TC-4 International Symposium on Understanding the World through Electrical and Electronic Measurement / 19th International Workshop on ADC Modelling and Testing in MEASUREMENT, VOLUME: 111
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 20
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
15
TÍTULO: Editorial for the Special Section of Measurement on the IMEKO TC-4 Benevento 2014 Symposium
AUTORES: Arpaia, P; Ramos, PM ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 98
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
16
TÍTULO: A Comparative Analysis between Genetic Algorithms and Complex Nonlinear Least Squares on Electrical Impedance Characterization
AUTORES: Fernando M Janeiro; Pedro M Ramos ;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) in 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
17
TÍTULO: A comparative analysis between genetic algorithms and complex nonlinear least squares on electrical impedance characterization  Full Text
AUTORES: Janeiro, FM ; Ramos, PM ;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: 2016 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2016 in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 2016-July
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
18
TÍTULO: Cloud base height measurement system based on stereo vision with automatic calibration  Full Text
AUTORES: Janeiro, FM ; Ramos, PM ; Carretas, F; Wagner, F;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: 2016 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2016 in Conference Record - IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, VOLUME: 2016-July
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
19
TÍTULO: Cloud Base Height Measurement System Based on Stereo Vision with Automatic Calibration
AUTORES: Fernando M Janeiro; Filipe Carretas; Pedro M Ramos ; Frank Wagner;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) in 2016 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE PROCEEDINGS
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
20
TÍTULO: Portable Embedded System for Contactless Measurement of Material Conductivity
AUTORES: Nuno Rodrigues; Luis Rosado; Pedro M Ramos ;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: 21st IMEKO TC-4 International Symposium on Understanding the World through Electrical and Electronic Measurement / 19th International Workshop on ADC Modelling and Testing in PROCEEDINGS OF THE 21ST IMEKO TC-4 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON UNDERSTANDING THE WORLD THROUGH ELECTRICAL AND ELECTRONIC MEASUREMENT AND 19TH INTERNATIONAL WORKSHOP ON ADC MODELLING AND TESTING
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
Página 2 de 16. Total de resultados: 153.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2026 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service