Reinhard Horst Schwarz


AuthID: R-000-F9H

Publicações Confirmadas: 112



101
TÍTULO: Visible-infrared spectral response of microcrystalline hydrogenated silicon hetero-junctions  Full Text
AUTORES: Vieira, M ; Macarico, A; Fantoni, A ; Fernandes, M; Koynov, S; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 2nd European Conference on Hard Coatings (ETCHC-2)/3rd Iberian Vacuum Meeting (3rd RIVA) in VACUUM, VOLUME: 52, NÚMERO: 1-2
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102
TÍTULO: A two-dimensional visible/infrared detector based on mu c-Si : H p-i-n structures  Full Text
AUTORES: Vieira, M ; Macarico, A; Morgado, E; Koynov, S; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 17th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors - Science and Technology (ICAMS 17) in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 227, NÚMERO: PART 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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103
TÍTULO: Dispersive transport in disordered semiconductors  Full Text
AUTORES: Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 17th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors - Science and Technology (ICAMS 17) in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 227, NÚMERO: PART 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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104
TÍTULO: Kinetics of Pt silicide formation studied by spectral ellipsometry
AUTORES: Schwarz, R ; Dittrich, A; Zhou, SM; Hundhausen, M; Ley, L; Chen, LY; Woerle, D; Manke, C; Schulz, M;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium on Rapid Thermal and Integrated Processing VI, at the 1997 MRS Spring Meeting in RAPID THERMAL AND INTEGRATED PROCESSING VI, VOLUME: 470
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105
TÍTULO: Performance degradation of microcrystalline silicon-based p-i-n detectors upon He-4 irradiation
AUTORES: Schwarz, R ; Vieira, M ; Macarico, F; Koynov, S; Cardoso, S ; Soares, JC ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 19th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-19) in DEFECTS IN SEMICONDUCTORS - ICDS-19, PTS 1-3, VOLUME: 258-2, NÚMERO: PART 1
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106
TÍTULO: Transition from tunneling to Poole-Frenkel type transport in aluminum-nitride
AUTORES: Schwarz, R ; Sun, JJ; Rocha, R ; Morgado, E; Freitas, PP ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 19th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-19) in DEFECTS IN SEMICONDUCTORS - ICDS-19, PTS 1-3, VOLUME: 258-2, NÚMERO: PART 2
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107
TÍTULO: Wide spectral response in mu c-Si:H photodiodes  Full Text
AUTORES: Vieira, M ; Koynov, S; Fantoni, A ; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Symposium B: Thin Film Materials for Large Area Electronics at the European-Materials-Research-Society 1996 Spring Meeting in THIN SOLID FILMS, VOLUME: 296, NÚMERO: 1-2
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108
TÍTULO: Wide spectral response photodetectors based on microcrystalline hydrogenated silicon thin films
AUTORES: Vieira, M ; Fantoni, A ; Koynov, S; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Conference on Photodetectors - Materials and Devices II in PHOTODETECTORS: MATERIALS AND DEVICES II, VOLUME: 2999
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109
TÍTULO: A two-dimensional numerical simulation of a non-uniformly illuminated amorphous silicon solar cell
AUTORES: Fantoni, A ; Vieira, M ; Cruz, J ; Schwarz, R ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 29, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 19
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110
TÍTULO: Comparison of diffusion length measurements from the flying spot technique and the photocarrier grating method in amorphous thin films  Full Text
AUTORES: Vieira, M ; Fantoni, A ; Martins, R ; Koynov, S; Wang, F; Grebner, S; Schwarz, R ;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: Proceedings of the 24th IEEE Photovoltaic Specialists Conference. Part 2 (of 2) in Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference, VOLUME: 1
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