Rodrigo Ferrao Paiva Martins


AuthID: R-000-FKV

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181
TÍTULO: Impedance study of the electrical properties of poly-Si thin film transistors  Full Text
AUTORES: Pereira, L ; Raniero, L; Barquinha, P ; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 21st International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 352, NÚMERO: 9-20
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182
TÍTULO: Influence of the ex-situ and in-situ annealed self-buffer layer on ZnO film  Full Text
AUTORES: Wang, JZ; Sallet, V; Amiri, G; Rommelluere, JF; Lusson, A; Rzepka, E; Lewis, JE; Galtier, P; Fortunato, E ; Martins, R ; Gorochov, O;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 12th International Conference on II-VI Compounds in Physica Status Solidi C - Current Topics in Solid State Physics, Vol 3, No 4, VOLUME: 3, NÚMERO: 4
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183
TÍTULO: Influence of the self-buffer layer on ZnO film grown by atmospheric metal organic chemical vapor deposition  Full Text
AUTORES: Jinzhong Z Wang; Vincent Sallet; Gaele Amiri; Jean Francois Rommelluere; Alain Lusson; John E Lewis; Pierre Galtier; Fortunato, E ; Martins, R ; Ouri Gorochov;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 515, NÚMERO: 4
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184
TÍTULO: Influence of the semiconductor thickness on the electrical properties of transparent TFTs based on indium zinc oxide  Full Text
AUTORES: Barquinha, P ; Pimentel, A ; Marques, A; Pereira, L ; Martins, R ; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 21st International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 352, NÚMERO: 9-20
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185
TÍTULO: Influence of time, light and temperature on the electrical properties of zinc oxide TFTs  Full Text
AUTORES: Barquinha, P ; Fortunato, E ; Goncalves, A; Pimentel, A ; Marques, A; Pereira, L ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: Symposium on ZnO and Related Materials held at the 2005 Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society in SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, VOLUME: 39, NÚMERO: 1-4
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186
TÍTULO: Insights on amorphous silicon nip and MIS 3D position sensitive detectors
AUTORES: Martins, R ; Costa, D; Aguas, H ; Soares, F; Marques, A; Ferreira, I ; Borges, P; Pereira, S; Raniero, L; Fortunato, E ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 3rd International Materials Symposium/12th Meeting of the Sociedad-Portuguesa-da-Materials (Materials 2005/SPM) in ADVANCED MATERIALS FORUM III, PTS 1 AND 2, VOLUME: 514-516, NÚMERO: PART 1
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187
TÍTULO: Investigation of a-Si : H 1D MIS position sensitive detectors for application in 3D sensors  Full Text
AUTORES: Aguas, H ; Pereira, L ; Raniero, L; Costa, D; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 21st International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors in JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, VOLUME: 352, NÚMERO: 9-20
INDEXADO EM: Scopus WOS
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188
TÍTULO: Low temperature processed hafnium oxide: Structural and electrical properties  Full Text
AUTORES: Pereira, L ; Barquinha, P ; Fortunato, E ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: Symposium on Characterization of High-K Dielectric Materials held at the 2006 E-MRS Spring Meeting in MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, VOLUME: 9, NÚMERO: 6
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189
TÍTULO: Multicomponent wide band gap oxide semiconductors for thin film transistors
AUTORES: Fortunato, E ; Barquinha, P ; Pereira, L ; Goncalves, G; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 6th International Meeting on Information Displays/5th International Display Manufacturing Conference (IMID/IDMC 2006) in IMID/IDMC 2006: THE 6TH INTERNATIONAL MEETING ON INFORMATION DISPLAY/THE 5TH INTERNATIONAL DISPLAY MANUFACTURING CONFERENCE, DIGEST OF TECHNICAL PAPERS, VOLUME: 2006
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190
TÍTULO: Multifunctional thin film zinc oxide semiconductors: Application to electronic devices
AUTORES: Fortunato, E ; Goncalves, A; Marques, A; Pimentel, A ; Barquinha, P ; Aguas, H ; Pereira, L ; Raniero, L; Goncalves, G; Ferreira, I ; Martins, R ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 3rd International Materials Symposium/12th Meeting of the Sociedad-Portuguesa-da-Materials (Materials 2005/SPM) in ADVANCED MATERIALS FORUM III, PTS 1 AND 2, VOLUME: 514-516, NÚMERO: PART 1
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