António Manuel Cruz Serra


AuthID: R-000-28E

Publicações Confirmadas: 125



81
TÍTULO: Dual tone analysis for phase-plane coverage in ADC metrological characterization
AUTORES: Monteiro, CL; Arpaia, P; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IMTC/O3: PROCEEDINGS OF THE 20TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1 AND 2, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS
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82
TÍTULO: Error correction technique for dynamic impedance measurement
AUTORES: Quaresma, H; Silva, AP; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IMTC/O3: PROCEEDINGS OF THE 20TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1 AND 2, VOLUME: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS
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83
TÍTULO: Introduction to the special issue on ADC testing, 6th EuroWorkshop on ADC Modelling and Testing  Full Text
AUTORES: Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: EWADC in COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 25, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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84
TÍTULO: New methods to improve convergence of sine fitting algorithms  Full Text
AUTORES: da Silva, MF; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 6th Euro Workshop on ADC Modelling and Testing (EWADC in COMPUTER STANDARDS & INTERFACES, VOLUME: 25, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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85
TÍTULO: Performance of data acquisition systems from user's point of view
AUTORES: Alegria, F ; Girao, P; Haasz, V; Serra, A ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference in IMTC/O3: PROCEEDINGS OF THE 20TH IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, VOLS 1 AND 2, VOLUME: 2
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86
TÍTULO: Representation and measurement of nonlinearities in stimulus signals
AUTORES: Martins, RC ; Serra, AMD ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: 19th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC/2002) in IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 52, NÚMERO: 4
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87
TÍTULO: Variance of the cumulative histogram of ADCs due to frequency errors
AUTORES: Alegria, FAC ; Serra, AMD ;
PUBLICAÇÃO: 2003, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 52, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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88
TÍTULO: A comprehensive phase-spectrum approach to metrological characterization of hysteretic ADCs
AUTORES: Monteiro, CL; Arpaia, P; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 51, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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89
TÍTULO: An ADC histogram test based on small-amplitude waves  Full Text
AUTORES: Alegria, FC ; Arpaia, P; Daponte, P; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 16th IMEKO World Congress in MEASUREMENT, VOLUME: 31, NÚMERO: 4
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90
TÍTULO: Dithering performance of oversampled ADC systems affected by hysteresis  Full Text
AUTORES: Pereira, JMD ; Girao, PS ; Serra, AC ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 32, NÚMERO: 1
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