Nenad Bundaleski


AuthID: R-000-WDR

Publicações Confirmadas: 153



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TÍTULO: Ab initio potential for the He-Ag(110) interaction investigated using grazing-incidence fast-atom diffraction
AUTORES: Rios Rubiano, CAR; Bocan, GA; Gravielle, MS; Bundaleski, N ; Khemliche, H; Roncin, P;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: PHYSICAL REVIEW A, VOLUME: 87, NÚMERO: 1
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TÍTULO: Catalytic applications of a versatile magnetically separable Fe-Mo (Nanocat-Fe-Mo) nanocatalyst  Full Text
AUTORES: Gawande, MB; Branco, PS ; Nogueira, ID; Ghumman, CAA; Bundaleski, N ; Santos, A; Teodoro, OMND ; Luque, R;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: GREEN CHEMISTRY, VOLUME: 15, NÚMERO: 3
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TÍTULO: Experimental investigation of the influence of electron incidence angle on the Total Electron Emission Yield of silver
AUTORES: Gineste, T; Belhaj, M; Bundaleski, N ; Teodoro, OMND ; Pons, C; Puech, J; Balcon, N;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 in 14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 - Proceedings
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TÍTULO: Experimental investigation of the Influence of Electron Incidence Angle on the Total Electron Emission Yield of Silver
AUTORES: Gineste, T; Belhaj, M; Bundaleski, N ; Teodoro, OMND; Pons, C; Puech, J; Balcon, N;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 14th IEEE International Vacuum Electronics Conference (IVEC) in 2013 IEEE 14TH INTERNATIONAL VACUUM ELECTRONICS CONFERENCE (IVEC)
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TÍTULO: Influence of the incident angle on energy dependence of a secondary electron emission yield
AUTORES: Bundaleski, N ; Belhaj, M; Gineste, T; Teodoro, OMND ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 in 14th IEEE International Vacuum Electronics Conference, IVEC 2013 - Proceedings
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TÍTULO: Influence of the Incident Angle on Energy Dependence of a Secondary Electron Emission Yield
AUTORES: Bundaleski, N ; Belhaj, M; Gineste, T; Teodoro, MND;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: 14th IEEE International Vacuum Electronics Conference (IVEC) in 2013 IEEE 14TH INTERNATIONAL VACUUM ELECTRONICS CONFERENCE (IVEC)
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TÍTULO: Influence of the patch field on work function measurements based on the secondary electron emission  Full Text
AUTORES: Bundaleski, N ; Trigueiro, J; Silva, AG ; Moutinho, AMC ; Teodoro, OMND ;
PUBLICAÇÃO: 2013, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 113, NÚMERO: 18
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