Eduardo Jorge da Costa Alves


AuthID: R-000-4EK

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TÍTULO: SiGe layer thickness effect on the structural and optical properties of well-organized SiGe/SiO<sub>2</sub> multilayers  Full Text
AUTORES: Vieira, EMF; Toudert, J; Rolo, AG ; Parisini, A; Leitao, JP; Correia, MR; Franco, N; Alves, E ; Chahboun, A; Martín Sánchez, J; Serna, R; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 28, NÚMERO: 34
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 5 Handle
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TÍTULO: Studies of lithium deposition and D retention on tungsten samples exposed to Li-seeded plasmas in PISCES-A  Full Text
AUTORES: Tabares, FL; Alegre, D; Baldwin, M; Nishijima, D; Simmonds, M; Doerner, R; Alves, E ; Mateus, R;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: PLASMA PHYSICS AND CONTROLLED FUSION, VOLUME: 59, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: WOS
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TÍTULO: Studies of lithium deposition and D retention on tungsten samples exposed to Li-seeded plasmas in PISCES-A  Full Text
AUTORES: Tabarés, FL; Alegre, D; Baldwin, M; Nishijima, D; Simmonds, M; Doerner, R; Alves, E ; Mateus, R;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: Plasma Physics and Controlled Fusion, VOLUME: 59, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 5
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TÍTULO: Study of deuterium retention in Be-W coatings with distinct roughness profiles  Full Text
AUTORES: Mateus, R; Hakola, A; Tiron, V; Porosnicu, C; Lungu, CP; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: 29th Symposium on Fusion Technology (SOFT) in FUSION ENGINEERING AND DESIGN, VOLUME: 124
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 7
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TÍTULO: Thermal and chemical stability of the beta-W2N nitride phase
AUTORES: Mateus, R; Sequeira, MC; Porosnicu, C; Lungu, CP; Hakola, A; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: NUCLEAR MATERIALS AND ENERGY, VOLUME: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 19
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TÍTULO: Time-resolved deposition in the remote region of the JET-ILW divertor: measurements and modelling
AUTORES: Catarino, N; Widdowson, A; Baron Wiechec, A; Coad, JP; Heinola, K; Rubel, M; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: 16th International Conference on Plasma-Facing Materials and Components for Fusion Applications (PFMC) in PHYSICA SCRIPTA, VOLUME: T170, NÚMERO: T170
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 6
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TÍTULO: Validity of Vegard's rule for Al1-xInxN (0.08 &lt; x &lt; 0.28) thin films grown on GaN templates  Full Text
AUTORES: Magalhães, S; Franco, N; Watson, IM; Martin, RW; O'Donnell, KP; Schenk, HPD; Tang, F; Sadler, TC; Kappers, MJ; Oliver, RA; Monteiro, T ; Martin, TL; Bagot, PAJ; Moody, MP; Alves, E ; Lorenz, K ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics, VOLUME: 50, NÚMERO: 20
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 10
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TÍTULO: Validity of Vegard's rule for Al1-xInxN (0.08 < x < 0.28) thin films grown on GaN templates  Full Text
AUTORES: Magalhaes, S; Franco, N; Watson, IM; Martin, RW; O'Donnell, KP; Schenk, HPD; Tang, F; Sadler, TC; Kappers, MJ; Oliver, RA; Monteiro, T; Martin, TL; Bagot, PAJ; Moody, MP; Alves, E ; Lorenz, K ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 50, NÚMERO: 20
INDEXADO EM: WOS
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TÍTULO: Quantitative x-ray diffraction analysis of bimodal damage distributions in Tm implanted Al 0.15 Ga 0.85 N   Full Text
AUTORES: Magalhães, S; Fialho, M; Peres, M; Lorenz, K ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 49, NÚMERO: 13
INDEXADO EM: CrossRef
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Página 16 de 91. Total de resultados: 904.

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