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Eduardo Jorge da Costa Alves
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1984
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40
50
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181
TÃTULO:
Quantitative x-ray diffraction analysis of bimodal damage distributions in Tm implanted Al0.15Ga0.85N
AUTORES:
Magalha∼es, S
; Fialho, M;
Peres, M
;
Lorenz, K
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
Journal of Physics D: Applied Physics,
VOLUME:
49,
NÚMERO:
13
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
182
TÃTULO:
Quantum Well Intermixing and Radiation Effects in InGaN/GaN Multi Quantum Wells
AUTORES:
Lorenz, K
;
Redondo Cubero, A
; Lourenco, MB;
Sequeira, MC
;
Peres, M
;
Freitas, A
;
Alves, LC
;
Alves, E
;
Leitao, MP
;
Rodrigues, J
;
Ben Sedrine, N
;
Correia, MR
;
Monteiro, T
;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
Conference on Gallium Nitride Materials and Devices XI
in
GALLIUM NITRIDE MATERIALS AND DEVICES XI,
VOLUME:
9748
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
1
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
183
TÃTULO:
Raman microscopy investigation of beryllium materials
AUTORES:
Pardanaud, C; Rusu, MI; Giacometti, G; Martin, C; Addab, Y; Roubin, P; Lungu, CP; Porosnicu, C; Jepu, I; Dinca, P; Lungu, M; Pompilian, OG;
Mateus, R
;
Alves, E
; Rubel, M;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
15th International Conference on Plasma-Facing Materials and Components for Fusion Applications (PFMC)
in
PHYSICA SCRIPTA,
VOLUME:
T167,
NÚMERO:
T167
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
184
TÃTULO:
Spectroscopic analysis of the NIR emission in Tm implanted AlxGa1-xN layers
Full Text
AUTORES:
Rodrigues, J
; Fialho, M; Esteves, TC;
Santos, NF
;
Ben Sedrine, N
;
Rino, L
;
Neves, AJ
;
Lorenz, K
;
Alves, E
;
Monteiro, T
;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
120,
NÚMERO:
8
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
2
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
185
TÃTULO:
Study of damage formation and annealing of implanted III-nitride semiconductors for optoelectronic devices
Full Text
AUTORES:
Faye, DN; Fialho, M; Magalhaes, S;
Alves, E
; Ben Sedrine, N; Rodrigues, J;
Correia, MR
;
Monteiro, T
; Bockowski, M; Hoffmann, V; Weyers, M;
Lorenz, K
;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
18th International Conference on Radiation Effects in Insulators (REI)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
379
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
186
TÃTULO:
Study of In distribution on GaInSb:Al crystals by ion beam techniques
Full Text
AUTORES:
Streicher, M;
Corregidor, V
;
Catarino, N
;
Alves, LC
;
Franco, N
;
Fonseca, M.
; Martins, L;
Alves, E
;
Costa, EM
; Dedavid, BA;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
22nd International Conference on Ion Beam Analysis (IBA)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
371
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
187
TÃTULO:
Study of nuclear reactions producing 36Cl by micro-AMS
Full Text
AUTORES:
Luís, H;
Jesus, AP
;
Fonseca, M.
;
Cruz, J
;
Galaviz, D
; Franco, N;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
6th Nuclear Physics in Astrophysics, NPA 2013
in
Journal of Physics: Conference Series,
VOLUME:
665,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
188
TÃTULO:
Study of nuclear reactions producing Cl-36 by micro-AMS
AUTORES:
Luis, H;
Jesus, AP
;
Fonseca, M.
;
Cruz, J
;
Galaviz, D
;
Franco, N
;
Alves, E
;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
6th Nuclear Physics in Astrophysics Conference (NPA)
in
NUCLEAR PHYSICS IN ASTROPHYSICS VI (NPA6),
VOLUME:
665
INDEXADO EM:
WOS
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
189
TÃTULO:
The role and application of ion beam analysis for studies of plasma-facing components in controlled fusion devices
AUTORES:
Rubel, M; Petersson, P;
Alves, E
; Brezinsek, S; Coad, JP;
Heinola, K
; Mayer, M; Widdowson, A;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms,
VOLUME:
371
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
190
TÃTULO:
The role and application of ion beam analysis for studies of plasma-facing components in controlled fusion devices
Full Text
AUTORES:
Rubel, M
; Petersson, P;
Alves, E
; Brezinsek, S; Coad, JP; Heinola, K; Mayer, M; Widdowson, A;
PUBLICAÇÃO:
2016
,
FONTE:
22nd International Conference on Ion Beam Analysis (IBA)
in
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS,
VOLUME:
371
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
12
NO MEU:
ORCID
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