Eduardo Jorge da Costa Alves


AuthID: R-000-4EK

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361
TÍTULO: Low-temperature fabrication of layered self-organized Ge clusters by RF-sputtering
AUTORES: Pinto, SRC; Rolo, AG ; Buljan, M; Chahboun, A ; Bernstorff, S; Barradas, NP ; Alves, E ; Kashtiban, RJ; Bangert, U; Gomes, MJM ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: NANOSCALE RESEARCH LETTERS, VOLUME: 6, NÚMERO: 1
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362
TÍTULO: Mass spectrometry improvement on an high current ion implanter  Full Text
AUTORES: Lopes, JG; Alegria, FC ; Redondo, LM ; Rocha, J; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 10th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology (ECAART) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 269, NÚMERO: 24
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363
TÍTULO: Materials research under ITER-like divertor conditions at FOM Rijnhuizen  Full Text
AUTORES: Wright, GM; Westerhout, J; Al, RS; Alves, E ; Alves, LC ; Barradas, NP ; van den Berg, MA; Borodin, D; Brezinsek, S; Brons, S; van Eck, HJN; de Groot, B; Kleyn, AW; Koppers, WR; Kruijt, OG; Linke, J; Lopes J L Cardozo; Mayer, M; van der Meiden, HJ; Prins, PR; van Rooij, GJ; Scholten, J; Shumack, AE; Smeets, PHM; De Temmerman, G; Vijvers, WAJ; Rapp, J; ...Mais
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 14th International Conference on Fusion Reactor Materials (ICFRM) in JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS, VOLUME: 417, NÚMERO: 1-3
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364
TÍTULO: Mechanisms of damage formation in Eu-implanted GaN probed by X-ray diffraction
AUTORES: Lacroix, B; Leclerc, S; Declemy, A; Lorenz, K ; Alves, E ; Ruterana, P;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: EPL, VOLUME: 96, NÚMERO: 4
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365
TÍTULO: Microstructural characterization of the ODS Eurofer 97 EU-batch  Full Text
AUTORES: Mateus, R ; Carvalho, PA ; Nunes, D ; Alves, LC ; Franco, N; Correia, JB; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 26th Symposium on Fusion Technology (SOFT) in FUSION ENGINEERING AND DESIGN, VOLUME: 86, NÚMERO: 9-11
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366
TÍTULO: Optical properties of AlNxOy thin films deposited by DC magnetron sputtering
AUTORES: Borges, J ; Alves, E ; Vaz, F ; Marques, L ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: International Conference on Applications of Optics and Photonics in INTERNATIONAL CONFERENCE ON APPLICATIONS OF OPTICS AND PHOTONICS, VOLUME: 8001
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367
TÍTULO: Optimization Of A Mass Spectrometry Process
AUTORES: Jose Lopes ; Correa Alegria, FC ; Luis Redondo ; Barradas, NP ; Alves, E ; Jorge Rocha;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 21st International Conference on Application of Accelerators in Research and Industry (CAARI) in APPLICATION OF ACCELERATORS IN RESEARCH AND INDUSTRY: TWENTY-FIRST INTERNATIONAL CONFERENCE, VOLUME: 1336
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368
TÍTULO: Optimization Of A Mass Spectrometry Process
AUTORES: José Lopes ; Corre^a C Alegria; Luís Redondo ; Barradas, NP ; Alves, E ; Jorge Rocha; Floyd D McDaniel; Barney L Doyle;
PUBLICAÇÃO: 2011
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369
TÍTULO: Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behavior  Full Text
AUTORES: Arvinte, R; Borges, J ; Sousa, RE; Munteanu, D; Barradas, NP ; Alves, E ; Vaz, F ; Marques, L ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: APPLIED SURFACE SCIENCE, VOLUME: 257, NÚMERO: 21
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370
TÍTULO: Radiation damage formation and annealing in GaN and ZnO
AUTORES: Lorenz, K ; Peres, M; Franco, N; Marques, JG ; Miranda, SMC; Magalhaes, S; Monteiro, T ; Wesch, W; Alves, E ; Wendler, E;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Conference on Oxide-based Materials and Devices II in OXIDE-BASED MATERIALS AND DEVICES II, VOLUME: 7940
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