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522

TÃTULO: PVD-Grown photocatalytic TiO2 thin films on PVDF substrates for sensors and actuators applications Full Text
AUTORES: Tavares, CJ ; Marques, SM; Rebouta, L ; Lanceros Mendez, S ; Sencadas, V ; Costa, CM; Alves, E ; Fernandes, AJ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: THIN SOLID FILMS, VOLUME: 517, NÚMERO: 3

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523

TÃTULO: Radiation hardness of GeSi heterostructures with thin Ge layers Full Text
AUTORES: Leitao, JP ; Santos, NM; Sobolev, NA; Correia, MR ; Stepina, NP; Carmo, MC; Magalhaes, S; Alves, E ; Novikov, AV; Shaleev, MV; Lobanov, DN; Krasilnik, ZF;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Symposium on Semiconductor Nanostructures towards Electronic and Optoelectronic Device Applications held at the 2007 EMRS Spring Meeting in MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, VOLUME: 147, NÚMERO: 2-3

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TÃTULO: Radiation hardness of GeSi heterostructures with thin Ge layers Full Text
AUTORES: J.P Leitão; N.M Santos; N.A Sobolev; M.R Correia; N.P Stepina; M.C Carmo; Magalhães, S; Alves, E ; A.V Novikov; M.V Shaleev; D.N Lobanov; Z.F Krasilnik;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Materials Science and Engineering: B, VOLUME: 147, NÚMERO: 2-3

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525

TÃTULO: Raman and XRD studies of Ge nanocrystals in alumina films grown by RF-magnetron sputtering Full Text
AUTORES: Caldelas, R; Rolo, AG ; Gomes, MJM ; Alves, E ; Ramos, AR ; Conde, O ; Yerci, S; Turan, R;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 5th Iberian Vacuum Meeting in VACUUM, VOLUME: 82, NÚMERO: 12

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526

TÃTULO: Rare earth doping of III-nitride alloys by ion implantation Full Text
AUTORES: Lorenz, K ; Alves, E ; Roqan, IS; Martin, RW; Trager Cowan, C; O'Donnell, KP; Watson, IM;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 2nd Workshop on Impurity Based Electroluminescent Devices and Materials (IBEDM 2006) in PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE, VOLUME: 205, NÚMERO: 1

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527

TÃTULO: RBS analysis of InGaN/GaN quantum wells for hybrid structures with efficient Forster coupling Full Text
AUTORES: Barradas, NP ; Alves, E ; Pereira, S ; Watson, IM;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 18th International Conference on Ion Beam Analysis in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 266, NÚMERO: 8

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