Jorge Filipe Leal Costa Semião


AuthID: R-001-F67

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TÍTULO: Process tolerant design using thermal and power-supply tolerance in pipeline based circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 11th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in 2008 IEEE WORKSHOP ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS, PROCEEDINGS
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TÍTULO: Robust Solution for Synchronous Communication among Multi Clock Domains
AUTORES: Jorge Semião ; Varela, J ; Freijedo, J; Andina, J; Leong, C; Teixeira, JP ; Teixeira, I ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS 2008) in 2008 IEEE ASIA PACIFIC CONFERENCE ON CIRCUITS AND SYSTEMS (APCCAS 2008), VOLS 1-4
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TÍTULO: Signal integrity enhancement in digital circuits  Full Text
AUTORES: Jorge Semião ; Marcial Jesus R Rodriguez Irago; Juan J Rodriguez Andina; Leonardo Bisch Piccoli; Fabian Luis Vargas; Marcelino Bicho dos Santos ; Isabel Maria C Cacho Teixeira ; Joao Paulo Teixeira ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS, VOLUME: 25, NÚMERO: 5
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TÍTULO: Time Management for Low-Power Design of Digital Systems
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, JF; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 4, NÚMERO: 3
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TÍTULO: Enhancing the tolerance to power-supply instability in digital circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez J R Andina; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: IEEE-Computer-Society Annual Symposium on VLSI in IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI, PROCEEDINGS: EMERGING VLSI TECHNOLOGIES AND ARCHITECTURES
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TÍTULO: Improving the tolerance of pipeline based circuits to power supply or temperature variations
AUTORES: Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems, DFT 2007 in Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
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TÍTULO: Improving tolerance to power-supply and temperature variations in synchronous circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodiriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 10th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
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TÍTULO: On-line dynamic delay insertion to improve signal integrity in synchronous circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 13th IEEE International On-Line Testing Symposium in 13TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM PROCEEDINGS
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TÍTULO: Dynamic fault detection in digital systems using dynamic voltage scaling and multi-temperature schemes
AUTORES: Rodriguez Irago, M; Andina, JJR; Vargas, F; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium in Proceedings - IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, VOLUME: 2006
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TÍTULO: Functional-oriented BIST of Sequential Circuits Aiming at Dynamic Faults Coverage
AUTORES: Guerreiro, F; Jorge Semião ; Pierce, A; M.B Santos; I.M Teixeira;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems
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