Katharina Lorenz


AuthID: R-000-90E

Publicações Confirmadas: 314



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TÍTULO: Luminescence of Eu3+ in GaN(Mg, Eu): Transitions from the D-5(1) level
AUTORES: Singh, AK; O'Donnell, KP; Edwards, PR; Cameron, D; Lorenz, K ; Kapper, MJ; Bockowski, M; Yamaga, M; Prakash, R;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 111, NÚMERO: 24
INDEXADO EM: WOS CrossRef: 12
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TÍTULO: Luminescence of Eu<sup>3+</sup> in GaN(Mg, Eu): Transitions from the <sup>5</sup>D<inf>1</inf> level
AUTORES: Singh A.K.; O'Donnell K.P.; Edwards P.R.; Cameron D.; Lorenz K. ; Kappers M.J.; Boćkowski M.; Yamaga M.; Prakash R.;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: Applied Physics Letters, VOLUME: 111, NÚMERO: 24
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TÍTULO: Raman and cathodoluminescence analysis of transition metal ion implanted Ga2O3 nanowires
AUTORES: Gonzalo, A; Nogales, E; Lorenz, K ; Villora, EG; Shimamura, K; Piqueras, J; Mendez, B;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: 19th International Conference on Dynamical Processes in Excited States of Solids (DPC) in JOURNAL OF LUMINESCENCE, VOLUME: 191
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 16
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TÍTULO: Validity of Vegard's rule for Al1-xInxN (0.08 &lt; x &lt; 0.28) thin films grown on GaN templates  Full Text
AUTORES: Magalhães, S; Franco, N; Watson, IM; Martin, RW; O'Donnell, KP; Schenk, HPD; Tang, F; Sadler, TC; Kappers, MJ; Oliver, RA; Monteiro, T ; Martin, TL; Bagot, PAJ; Moody, MP; Alves, E ; Lorenz, K ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics, VOLUME: 50, NÚMERO: 20
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 10
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TÍTULO: Validity of Vegard's rule for Al1-xInxN (0.08 < x < 0.28) thin films grown on GaN templates  Full Text
AUTORES: Magalhaes, S; Franco, N; Watson, IM; Martin, RW; O'Donnell, KP; Schenk, HPD; Tang, F; Sadler, TC; Kappers, MJ; Oliver, RA; Monteiro, T; Martin, TL; Bagot, PAJ; Moody, MP; Alves, E ; Lorenz, K ;
PUBLICAÇÃO: 2017, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 50, NÚMERO: 20
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TÍTULO: Quantitative x-ray diffraction analysis of bimodal damage distributions in Tm implanted Al 0.15 Ga 0.85 N   Full Text
AUTORES: Magalhães, S; Fialho, M; Peres, M; Lorenz, K ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics - J. Phys. D: Appl. Phys., VOLUME: 49, NÚMERO: 13
INDEXADO EM: CrossRef
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TÍTULO: Analysis of the Tb3+ recombination in ion implanted AlxGa1-xN (0 <= x <= 1) layers  Full Text
AUTORES: Rodrigues, J; Fialho, M; Magalhaes, S; Correia, MR; Rino, L; Alves, E ; Neves, AJ; Lorenz, K ; Monteiro, T ;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF LUMINESCENCE, VOLUME: 178
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 3
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TÍTULO: Correction to "Spectroscopic Analysis of Eu 3+ Implanted and Annealed GaN Layers and Nanowires"
AUTORES: Rodrigues, J; Leitão, MF; Carreira, JFC; Ben Sedrine, N; Santos, NF; Felizardo, M ; Auzelle, T; Daudin, B; Alves, E ; Neves, AJ; Correia, MR; Costa, FM; Lorenz, K ; Monteiro, T ;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physical Chemistry C, VOLUME: 120, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 3
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99
TÍTULO: Crystalfield symmetries of luminescent Eu3+ centers in GaN: The importance of the D-5(0) to F-7(1) transition  Full Text
AUTORES: O'Donnell, KP; Edwards, PR; Yamaga, M; Lorenz, K ; Kappers, MJ; Bockowski, M;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 108, NÚMERO: 2
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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100
TÍTULO: Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction  Full Text
AUTORES: Daniel Carvalho; Knut Mueller Caspary; Marco Schowalter; Tim Grieb; Thorsten Mehrtens; Andreas Rosenauer; Teresa Ben; Rafael Garcia; Andres Redondo Cubero; Katharina Lorenz ; Bruno Daudin; Francisco M Morales;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 6
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