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Katharina Lorenz
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IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 314
191
TÃTULO:
Free electron properties and hydrogen in InN grown by MOVPE
Full Text
AUTORES:
Darakchieva, V
; Y Xie; Rogalla, D; W Becker;
Lorenz, K
;
Alves, E
; Ruffenach, S; Moret, M; Briot, O;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE,
VOLUME:
208,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
192
TÃTULO:
Hydrogen In Group-III Nitrides: An Ion Beam Analysis Study
Full Text
AUTORES:
Lorenz, K
;
Miranda, SMC
;
Barradas, NP
;
Alves, E
; Nanishi, Y;
Schaff, WJ
; Tu, LW;
Darakchieva, V
; Floyd D McDaniel; Barney L Doyle;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
21st International Conference on Application of Accelerators in Research and Industry (CAARI)
in
APPLICATION OF ACCELERATORS IN RESEARCH AND INDUSTRY: TWENTY-FIRST INTERNATIONAL CONFERENCE,
VOLUME:
1336
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
193
TÃTULO:
Implanted impurities in wide band gap semiconductors
AUTORES:
Kessler, P;
Lorenz, K
; Vianden, R;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
Defect and Diffusion Forum,
VOLUME:
311
INDEXADO EM:
Scopus
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
194
TÃTULO:
Implanted Impurities in Wide Band Gap Semiconductors
AUTORES:
Keßler, P
;
Lorenz, K
; Vianden, R;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
Defect and Diffusion Forum - DDF,
VOLUME:
311
INDEXADO EM:
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
195
TÃTULO:
Mechanisms of damage formation in Eu-implanted GaN probed by X-ray diffraction
AUTORES:
Lacroix, B; Leclerc, S; Declemy, A;
Lorenz, K
;
Alves, E
;
Ruterana, P
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
EPL,
VOLUME:
96,
NÚMERO:
4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
196
TÃTULO:
Radiation damage formation and annealing in GaN and ZnO
AUTORES:
Lorenz, K
;
Peres, M
;
Franco, N
;
Marques, JG
;
Miranda, SMC
;
Magalhaes, S
;
Monteiro, T
; Wesch, W;
Alves, E
;
Wendler, E
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
Conference on Oxide-based Materials and Devices II
in
OXIDE-BASED MATERIALS AND DEVICES II,
VOLUME:
7940
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
197
TÃTULO:
Rapid thermal annealing of rare earth implanted ZnO epitaxial layers
Full Text
AUTORES:
Miranda, SMC; Peres, M;
Monteiro, T
;
Alves, E
; Sun, HD; Geruschke, T; Vianden, R;
Lorenz, K
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society
in
OPTICAL MATERIALS,
VOLUME:
33,
NÚMERO:
7
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Handle
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
198
TÃTULO:
Structural and optical properties of Er implanted AlN thin films: Green and infrared photoluminescence at room temperature
Full Text
AUTORES:
Soares, MJ
;
Leitao, JP
; da Silva, MIN; Gonzalez, JC; Matinaga, FM;
Lorenz, K
;
Alves, E
; Peres, M;
Monteiro, T
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
Spring Meeting of the European-Materials-Research-Society
in
OPTICAL MATERIALS,
VOLUME:
33,
NÚMERO:
7
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
Handle
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
199
TÃTULO:
Ternary AlGaN Alloys with High Al Content and Enhanced Compositional Homogeneity Grown by Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy
AUTORES:
Vincent Fellmann
;
Perine Jaffrennou
;
Diane Sam Giao
;
Bruno Gayral
;
Katharina Lorenz
;
Eduardo Alves
;
Bruno Daudin
;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
50,
NÚMERO:
3
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
200
TÃTULO:
The high sensitivity of InN under rare earth ion implantation at medium range energy
Full Text
AUTORES:
Lacroix, B; Chauvat, MP;
Ruterana, P
;
Lorenz, K
;
Alves, E
; Syrkin, A;
PUBLICAÇÃO:
2011
,
FONTE:
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS,
VOLUME:
44,
NÚMERO:
29
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
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