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TÃTULO: Luminescence of Eu ions in AlxGa1-xN across the entire alloy composition range
AUTORES: Wang, K; O'Donnell, KP; Hourahine, B; Martin, RW; Watson, IM; Lorenz, K ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: PHYSICAL REVIEW B, VOLUME: 80, NÚMERO: 12

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TÃTULO: Optical and structural properties of Eu-implanted InxAl1-xN Full Text
AUTORES: Roqan, IS; O'Donnell, KP; Martin, RW; Trager Cowan, C; Matias, V; Vantomme, A; Lorenz, K ; Alves, E ; Watson, IM;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 8

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TÃTULO: Optical and structural properties of Eu-implanted In[sub x]Al[sub 1−x]N Full Text
AUTORES: Roqan, IS; O’Donnell, KP; Martin, RW; Trager-Cowan, C; Matias, V; Vantomme, A; Lorenz, K ; Alves, E ; Watson, IM;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: J. Appl. Phys. - Journal of Applied Physics, VOLUME: 106, NÚMERO: 8

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TÃTULO: Optically active centers in Eu implanted, Eu in situ doped GaN, and Eu doped GaN quantum dots Full Text
AUTORES: Bodiou, L; Braud, A; L Doualan; Moncorge, R; Park, JH; Munasinghe, C; Steckl, AJ; Lorenz, K ; Alves, E ; Daudin, B;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 105, NÚMERO: 4

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TÃTULO: Radiation damage in ZnO ion implanted at 15 K Full Text
AUTORES: Wendler, E; Bilani, O; Gaertner, K; Wesch, W; Hayes, M; Auret, FD; Lorenz, K ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 23rd International Conference on Atomic Collisions in Solids in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 267, NÚMERO: 16

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TÃTULO: Role of impurities and dislocations for the unintentional n-type conductivity in InN Full Text
AUTORES: Darakchieva, V; Barradas, NP ; Y Xie; Lorenz, K ; Alves, E ; Schubert, M; Persson, POA; Giuliani, F; Munnik, F; Hsiao, CL; Tu, LW; Schaff, WJ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 3rd South African Conference on Photonic Materials in PHYSICA B-CONDENSED MATTER, VOLUME: 404, NÚMERO: 22

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TÃTULO: Stable In-defect complexes in GaN and AlN Full Text
AUTORES: Schmitz, J; Niederhausen, J; Penner, J; Lorenz, K ; Alves, E ; Vianden, R;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 25th International Conference on Defects in Semiconductors in PHYSICA B-CONDENSED MATTER, VOLUME: 404, NÚMERO: 23-24

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TÃTULO: Structural and optical characterization of Eu-implanted GaN Full Text
AUTORES: Lorenz, K ; Barradas, NP ; Alves, E ; Roqan, IS; Nogales, E; Martin, RW; O'Donnell, KP; Gloux, F; Ruterana, P;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 42, NÚMERO: 16

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TÃTULO: A comparative investigation of the damage build-up in GaN and Si during rare earth ion implantation Full Text
AUTORES: Florence Gloux; Pierre Ruterana; Lorenz, K ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: 2nd Workshop on Impurity Based Electroluminescent Devices and Materials (IBEDM 2006) in PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE, VOLUME: 205, NÚMERO: 1

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