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Lijian Meng
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Proceedings Paper (5)
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1990
1989
1988
1987
Order:
Ano Dsc
Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 59
21
TÃTULO:
Residual stress effects on Raman spectra of RuO2 thin films
AUTORES:
Meng, LJ
;
Silva, R
; Cui, HN;
Teixeira, V
;
dos Santos, MP
;
PUBLICAÇÃO:
2005
,
FONTE:
7th International Conference onResidual Strsses (ICRS-7)
in
RESIDUAL STRESSES VII, PROCEEDINGS,
VOLUME:
490-491
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
22
TÃTULO:
Simultaneous determination of rate ratio of recombination to capture and trap depth from thermo-luminescence of ZnS : Cu, Co
AUTORES:
Wang, LW; Xu, Z; Teng, F; Zhang, FJ;
Meng, LJ
; Xu, XR;
PUBLICAÇÃO:
2005
,
FONTE:
SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS,
VOLUME:
25,
NÚMERO:
10
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
23
TÃTULO:
Why is the band model not contradictory to molecular theory in organic electroluminescence?
Full Text
AUTORES:
Xu, Z;
Qu, C
; Teng, F; Zhang, FJ;
Meng, LJ
; Xu, XR;
PUBLICAÇÃO:
2005
,
FONTE:
APPLIED PHYSICS LETTERS,
VOLUME:
86,
NÚMERO:
6
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
24
TÃTULO:
Studies on microstructure bilayer film of ultrasonic dipped cadmium sulfide and d.c. sputtered indium tin oxide
Full Text
AUTORES:
Cui, HN;
Teixeira, V
;
Meng, LJ
; Zhang, HJ;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
30th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
447
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
25
TÃTULO:
X-ray analysis of multi-films for electrochromic device application
Full Text
AUTORES:
Cui, HN
; Jia, S;
Meng, LJ
;
Teixeira, V
;
PUBLICAÇÃO:
2004
,
FONTE:
8th Workshop of the European-Microbeam-Analysis-Society
in
MICROCHIMICA ACTA,
VOLUME:
145,
NÚMERO:
1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
26
TÃTULO:
Annealing effect on ITO thin films prepared by microwave-enhanced dc reactive magnetron sputtering for telecommunication applications
Full Text
AUTORES:
Meng, LH
;
Placido, F
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,
VOLUME:
166,
NÚMERO:
1
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
27
TÃTULO:
Raman spectroscopy analysis of magnetron sputtered RuO2 thin films
Full Text
AUTORES:
Meng, LJ
;
Teixeira, V
;
dos Santos, MP
;
PUBLICAÇÃO:
2003
,
FONTE:
4th International Conference on Coatings on Glass
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
442,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
28
TÃTULO:
Amorphous ITO thin films prepared by DC sputtering for electrochromic applications
Full Text
AUTORES:
Teixeira, V
;
Cui, HN
;
Meng, LJ
;
Fortunato, E
;
Martins, R
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
29th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
420
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
29
TÃTULO:
Indium-tin-oxide thin film prepared by microwave-enhanced d.c. reactive magnetron sputtering for telecommunication wavelengths
Full Text
AUTORES:
Meng, LJ
; Crossan, E; Voronov, A;
Placido, F
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
422,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
30
TÃTULO:
Study of ZrO2/Al2O3 multilayers
Full Text
AUTORES:
Gao, PT;
Meng, LJ
;
dos Santos, MP
;
Teixeira, V
;
Andritschky, M
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4)
in
VACUUM,
VOLUME:
64,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
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