81
TÍTULO: Crystalline quality of InxGa1-xN samples assessed by SEM, Raman and PL
AUTORES: Correia, R; Seitz, R; Gaspar, C; Monteiro, T; Pereira, E; Heuken, M; Schoen, O; Protzmann, H;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Conference on Microscopy of Semiconducting Materials in MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1999, PROCEEDINGS, NÚMERO: 164
INDEXADO EM: WOS
Página 9 de 9. Total de resultados: 81.