Reinhard Horst Schwarz
AuthID: R-000-F9H
81
TÃTULO: High band-gap hydrogenated amorphous silicon-selenium alloys Full Text
AUTORES: Al-Dallal, S; Aljishi, S; Hammam, M; Al-Alawi, SM; Stutzmann, M; Shu Jin; Muschik, T; Schwarz, R;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: J. Appl. Phys. - Journal of Applied Physics, VOLUME: 70, NÚMERO: 9
AUTORES: Al-Dallal, S; Aljishi, S; Hammam, M; Al-Alawi, SM; Stutzmann, M; Shu Jin; Muschik, T; Schwarz, R;
PUBLICAÇÃO: 1991, FONTE: J. Appl. Phys. - Journal of Applied Physics, VOLUME: 70, NÚMERO: 9
82
TÃTULO: Photoluminescence quenching by electric fields in hydrogenated amorphous silicon Full Text
AUTORES: Muschik, T; Schwarz, R; Curtins, H; Favre, M;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: Twentieth IEEE Photovoltaic Specialists Conference - 1988 in Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference, VOLUME: 1
AUTORES: Muschik, T; Schwarz, R; Curtins, H; Favre, M;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: Twentieth IEEE Photovoltaic Specialists Conference - 1988 in Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference, VOLUME: 1
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TÃTULO: Optical and electronic properties of an amorphous silicon-germanium alloy with a 1.28 eV optical gap Full Text
AUTORES: Kolodzey, J; Schwarz, R; Aljishi, S; Chu, V; Shen, DS; Fauchet, PM; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: Applied Physics Letters, VOLUME: 52, NÚMERO: 6
AUTORES: Kolodzey, J; Schwarz, R; Aljishi, S; Chu, V; Shen, DS; Fauchet, PM; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1988, FONTE: Applied Physics Letters, VOLUME: 52, NÚMERO: 6
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TÃTULO: Simultaneous depth profiling of constituents and impurities by elastic proton scattering in amorphous hydrogenated silicon films Full Text
AUTORES: Schwarz, R; Kolodzey, JS; Wagner, S; Kouzes, RT;
PUBLICAÇÃO: 1987, FONTE: Applied Physics Letters, VOLUME: 50, NÚMERO: 4
AUTORES: Schwarz, R; Kolodzey, JS; Wagner, S; Kouzes, RT;
PUBLICAÇÃO: 1987, FONTE: Applied Physics Letters, VOLUME: 50, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Reply to the comment by S. Dannefaer et al. on the paper of H. E. Schaefer et al. on "amorphous hydrogenated silicon studied by positron lifetime spectroscopy"
AUTORES: Schaefer, HE; Wurschum, R; Schwarz, R; Slobodin, D; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1987, FONTE: Applied Physics A Solids and Surfaces, VOLUME: 43, NÚMERO: 4
AUTORES: Schaefer, HE; Wurschum, R; Schwarz, R; Slobodin, D; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1987, FONTE: Applied Physics A Solids and Surfaces, VOLUME: 43, NÚMERO: 4
86
TÃTULO: Measurement of surface photovoltage in high-rate deposited a-Si:H films and comparison with photothermal deflection spectroscopy and conductivity data Full Text
AUTORES: Schwarz, R; Goedecker, S; Muschik, T; Wyrsch, N; Shah, AV; Curtins, H;
PUBLICAÇÃO: 1987, FONTE: Journal of Non-Crystalline Solids, VOLUME: 97-98, NÚMERO: PART 1
AUTORES: Schwarz, R; Goedecker, S; Muschik, T; Wyrsch, N; Shah, AV; Curtins, H;
PUBLICAÇÃO: 1987, FONTE: Journal of Non-Crystalline Solids, VOLUME: 97-98, NÚMERO: PART 1
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TÃTULO: Amorphous hydrogenated silicon studied by positron lifetime spectroscopy
AUTORES: Schaefer, HE; Wurschum, R; Schwarz, R; Slobodin, D; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1986, FONTE: Applied Physics A Solids and Surfaces, VOLUME: 40, NÚMERO: 3
AUTORES: Schaefer, HE; Wurschum, R; Schwarz, R; Slobodin, D; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1986, FONTE: Applied Physics A Solids and Surfaces, VOLUME: 40, NÚMERO: 3
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TÃTULO: Carrier scattering at periodic a-Si:H,F barriers in a-Si,Ge:H,F alloys Full Text
AUTORES: Kolodzey, J; Schwarz, R; Aljishi, S; Shen, DS; Campbell, I; Fauchet, PM; Lyon, SA; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1986, FONTE: Superlattices and Microstructures, VOLUME: 2, NÚMERO: 4
AUTORES: Kolodzey, J; Schwarz, R; Aljishi, S; Shen, DS; Campbell, I; Fauchet, PM; Lyon, SA; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1986, FONTE: Superlattices and Microstructures, VOLUME: 2, NÚMERO: 4
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TÃTULO: INFRARED SPECTROSCOPY OF DEUTERATED a-Si,Ge:D,F ALLOYS PREPARED BY DC GLOW DISCHARGE DEPOSITION.
AUTORES: Okada, Y; Slobodin, D; Chou, SF; Schwarz, R; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1986, FONTE: Materials Issues in Amorphous Semiconductor Technology. in Materials Research Society Symposia Proceedings, VOLUME: 70
AUTORES: Okada, Y; Slobodin, D; Chou, SF; Schwarz, R; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1986, FONTE: Materials Issues in Amorphous Semiconductor Technology. in Materials Research Society Symposia Proceedings, VOLUME: 70
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TÃTULO: MEASUREMENTS OF LIGHT-INDUCED DEGRADATION IN a-Si,Ge:H,F ALLOYS.
AUTORES: Kolodzey, J; Aljishi, S; Smith, ZE; Chu, V; Schwarz, R; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1986, FONTE: Materials Issues in Amorphous Semiconductor Technology. in Materials Research Society Symposia Proceedings, VOLUME: 70
AUTORES: Kolodzey, J; Aljishi, S; Smith, ZE; Chu, V; Schwarz, R; Wagner, S;
PUBLICAÇÃO: 1986, FONTE: Materials Issues in Amorphous Semiconductor Technology. in Materials Research Society Symposia Proceedings, VOLUME: 70
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