171
TÍTULO: MYOCARDIAL-INFARCTION DURING PREGNANCY
AUTORES: RAI, RS; CLIFFORD, K; REGAN, L;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: BRITISH JOURNAL OF OBSTETRICS AND GYNAECOLOGY, VOLUME: 101, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
172
TÍTULO: CHARACTERIZING III-V HETEROEPITAXIAL STRUCTURES
AUTORES: RAI, RS; PARSONS, CA;
PUBLICAÇÃO: 1994, FONTE: JOM-JOURNAL OF THE MINERALS METALS & MATERIALS SOCIETY, VOLUME: 46, NÚMERO: 9
INDEXADO EM: WOS CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
173
TÍTULO: CHARACTERIZATION OF INGAAS/ALGAAS/GAAS HETEROEPITAXIAL STRUCTURES BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY AND ENERGY-DISPERSIVE SPECTROSCOPY
AUTORES: RAI, RS; TARTAGLIA, JM; QUINN, WE; MARTEL, DC;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: PROGRESS IN CRYSTAL GROWTH AND CHARACTERIZATION OF MATERIALS, VOLUME: 27, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: WOS CrossRef: 1
NO MEU: ORCID
174
TÍTULO: TEM CHARACTERIZATION OF (HG,CD)TE/CDTE HETEROEPITAXIAL LAYERS
AUTORES: RAI, RS;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: MICROSTRUCTURE OF MATERIALS
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ORCID
175
TÍTULO: VERTICAL-CAVITY OPTOELECTRONIC STRUCTURES - CAD, GROWTH, AND STRUCTURAL CHARACTERIZATION
AUTORES: CHRISTENSEN, DH; CROCHIERE, SM; PELLEGRINO, JG; RAI, RS; PARSONS, CA; TSENG, WF; HICKERNELL, RK;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES FOR PHOTONIC AND ELECTRONIC APPLICATIONS, VOLUME: 281
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ORCID
176
TÍTULO: CHARACTERIZATION OF ALGAAS/INGAAS/GAAS HETEROEPITAXIAL LAYERS BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY AND ENERGY-DISPERSIVE SPECTROSCOPY
AUTORES: RAI, RS; TARTAGLIA, JM; QUINN, WE; MARTEL, DC;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES FOR PHOTONIC AND ELECTRONIC APPLICATIONS, VOLUME: 281
INDEXADO EM: WOS
NO MEU: ORCID
177
TÍTULO: VERTICAL-CAVITY SEMICONDUCTOR-LASERS - STRUCTURAL CHARACTERIZATION, CAD, AND DFB STRUCTURES
AUTORES: CHRISTENSEN, DH; PARSONS, CA; PELLEGRINO, JG; HILL, JR; RAI, RS; CROCHIERE, SM; HICKERNELL, RK; SCHAAFSMA, DT;
PUBLICAÇÃO: 1993, FONTE: LASER DIODE TECHNOLOGY AND APPLICATIONS V, VOLUME: 1850
INDEXADO EM: WOS CrossRef: 4
NO MEU: ORCID
180
TÍTULO: CVD AND CHARACTERIZATION OF AL-CU METALLIZATION THIN-FILMS
AUTORES: HOULDING, VH; MAXWELL, H; CROCHIERE, SM; FARRINGTON, DL; RAI, RS; TARTAGLIA, JM;
PUBLICAÇÃO: 1992, FONTE: ADVANCED METALLIZATION AND PROCESSING FOR SEMICONDUCTOR DEVICES AND CIRCUITS - II, VOLUME: 260
INDEXADO EM: WOS CrossRef: 6
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