Armando Silva Vieira
AuthID: R-000-2J1
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TÃTULO: Artificial neural networks for automation of Rutherford backscattering spectroscopy experiments and data analysis
AUTORES: Barradas, NP ; Vieira, A; Patricio, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 65, NÚMERO: 6
AUTORES: Barradas, NP ; Vieira, A; Patricio, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 65, NÚMERO: 6
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TÃTULO: RBS without humans Full Text
AUTORES: Barradas, NP ; Vieira, A; Patricio, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
AUTORES: Barradas, NP ; Vieira, A; Patricio, R;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
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TÃTULO: Analysis of sapphire implanted with different elements using artificial neural networks Full Text
AUTORES: Vieira, A; Barradas, NP ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
AUTORES: Vieira, A; Barradas, NP ; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: 15th International Conference on Ion-Beam Analysis (IBA-15) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 190, NÚMERO: 1-4
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TÃTULO: Artificial neural network analysis of RBS data of Er-implanted sapphire Full Text
AUTORES: Barradas, NP ; Vieira, A; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 12th International Conference on Ion Beam Modification of Materials (IBMM2000) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 175
AUTORES: Barradas, NP ; Vieira, A; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 12th International Conference on Ion Beam Modification of Materials (IBMM2000) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 175
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TÃTULO: Composition of NiTaC films on Si using neural networks analysis of elastic backscattering data Full Text
AUTORES: Vieira, A; Barradas, NP ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 174, NÚMERO: 3
AUTORES: Vieira, A; Barradas, NP ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 174, NÚMERO: 3
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TÃTULO: Artificial neural network algorithm for analysis of Rutherford backscattering data
AUTORES: Barradas, NP ; Vieira, A;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 62, NÚMERO: 4
AUTORES: Barradas, NP ; Vieira, A;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: PHYSICAL REVIEW E, VOLUME: 62, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Neural network analysis of Rutherford backscattering data Full Text
AUTORES: Vieira, A; Barradas, NP ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 170, NÚMERO: 1-2
AUTORES: Vieira, A; Barradas, NP ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 170, NÚMERO: 1-2
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TÃTULO: A two-dimensional regularization algorithm for density profile evaluation from broadband reflectometry Full Text
AUTORES: Nunes, F ; Varela, P; Silva, A; Manso, M; Santos, J ; Nunes, I ; Serra, F; Kurzan, B; Suttrop, W;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 11th Topical Conference on High-Temperature Plasma Diagnostics in REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, VOLUME: 68, NÚMERO: 1
AUTORES: Nunes, F ; Varela, P; Silva, A; Manso, M; Santos, J ; Nunes, I ; Serra, F; Kurzan, B; Suttrop, W;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 11th Topical Conference on High-Temperature Plasma Diagnostics in REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, VOLUME: 68, NÚMERO: 1
