Artur Fernando Delgado Lopes Ribeiro
AuthID: R-000-2K6
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TÃTULO: Analytical Model of Perturbed EMF in a Transmit-Receive Coil System Due to Thin Flaws
AUTORES: Baskaran, Prashanth; Pasadas, Dario; Ribeiro, Artur; Ramos, Helena;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, VOLUME: 58, NÚMERO: 5
AUTORES: Baskaran, Prashanth; Pasadas, Dario; Ribeiro, Artur; Ramos, Helena;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, VOLUME: 58, NÚMERO: 5
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TÃTULO: Experimental Estimation of Lamb Wave Dispersion Curves for Adhesively Bonded Aluminum Plates, Using Two Adjacent Signals Full Text
AUTORES: Barzegar, Mohsen; Pasadas, Dario Jeronimo; Lopes Ribeiro, Artur; Ramos, Helena Geirinhas;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON ULTRASONICS FERROELECTRICS AND FREQUENCY CONTROL, VOLUME: 69, NÚMERO: 6
AUTORES: Barzegar, Mohsen; Pasadas, Dario Jeronimo; Lopes Ribeiro, Artur; Ramos, Helena Geirinhas;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON ULTRASONICS FERROELECTRICS AND FREQUENCY CONTROL, VOLUME: 69, NÚMERO: 6
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TÃTULO: Guided Lamb wave tomography using angle beam transducers and inverse Radon transform for crack image reconstruction Full Text
AUTORES: Pasadas, Dario J.; Barzegar, Mohsen; Ribeiro, Artur L.; Ramos, Helena G.;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) in 2022 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE (I2MTC 2022)
AUTORES: Pasadas, Dario J.; Barzegar, Mohsen; Ribeiro, Artur L.; Ramos, Helena G.;
PUBLICAÇÃO: 2022, FONTE: IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) in 2022 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE (I2MTC 2022)
INDEXADO EM: 
Scopus 
WOS
Scopus WOS14
TÃTULO: Integration of multiple response signals into the probability of detection modelling in eddy current NDE of flaws Full Text
AUTORES: Baskaran, P; Pasadas, DJ; Ramos, HG; Ribeiro, AL;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: NDT & E INTERNATIONAL, VOLUME: 118
AUTORES: Baskaran, P; Pasadas, DJ; Ramos, HG; Ribeiro, AL;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: NDT & E INTERNATIONAL, VOLUME: 118
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TÃTULO: Semi-Analytical Modelling of Perturbations in Magnetic Flux Density due to Narrow Flaws in Eddy Current NDT
AUTORES: Prashanth Baskaran; Dario J Pasadas; Artur L Ribeiro; Helena G Ramos;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: 11th International Workshop NDT in Progress
AUTORES: Prashanth Baskaran; Dario J Pasadas; Artur L Ribeiro; Helena G Ramos;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: 11th International Workshop NDT in Progress
INDEXADO EM: Scopus
Scopus16
TÃTULO: Classification Functions and Optimization Algorithms for Debonding Detection in Adhesively Bonded Lap-joints through Ultrasonic Guided Waves
AUTORES: Barzegar, Mohsen; Pasadas, Dario J.; Ribeiro, Artur L.; Ramos, Helena G.;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: IEEE UFFC Latin America Ultrasonics Symposium (LAUS) in 2021 IEEE UFFC LATIN AMERICA ULTRASONICS SYMPOSIUM (LAUS)
AUTORES: Barzegar, Mohsen; Pasadas, Dario J.; Ribeiro, Artur L.; Ramos, Helena G.;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: IEEE UFFC Latin America Ultrasonics Symposium (LAUS) in 2021 IEEE UFFC LATIN AMERICA ULTRASONICS SYMPOSIUM (LAUS)
INDEXADO EM: Scopus WOS
Scopus WOS17
TÃTULO: A Boundary Element Model of Perturbed Magnetic Flux Density Component in Eddy Current NDT of Flaws
AUTORES: Prashanth Baskaran; Dario Pasadas; Helena Ramos; Artur Ribeiro;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: 2021 Telecoms Conference (ConfTELE)
AUTORES: Prashanth Baskaran; Dario Pasadas; Helena Ramos; Artur Ribeiro;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: 2021 Telecoms Conference (ConfTELE)
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TÃTULO: Detection and Classification of Defects Using ECT and Multi-Level SVM Model Full Text
AUTORES: Pasadas, DJ; Baskaran, P; Ramos, HG; Ribeiro, AL;
PUBLICAÇÃO: 2020, FONTE: IEEE SENSORS JOURNAL, VOLUME: 20, NÚMERO: 5
AUTORES: Pasadas, DJ; Baskaran, P; Ramos, HG; Ribeiro, AL;
PUBLICAÇÃO: 2020, FONTE: IEEE SENSORS JOURNAL, VOLUME: 20, NÚMERO: 5
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TÃTULO: ECT in composite materials using double excitation coils and resonant excitation/sensing circuits Full Text
AUTORES: Pasadas, DJ; Ramos, HG; Baskaran, P; Ribeiro, AL;
PUBLICAÇÃO: 2020, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 161
AUTORES: Pasadas, DJ; Ramos, HG; Baskaran, P; Ribeiro, AL;
PUBLICAÇÃO: 2020, FONTE: MEASUREMENT, VOLUME: 161
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TÃTULO: Locating Defects in Anisotropic CFRP Plates Using ToF-Based Probability Matrix and Neural Networks
AUTORES: Feng, B; Pasadas, DJ; Ribeiro, AL; Ramos, HG ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 68, NÚMERO: 5
AUTORES: Feng, B; Pasadas, DJ; Ribeiro, AL; Ramos, HG ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, VOLUME: 68, NÚMERO: 5
