Alexander Tolstoguzov
AuthID: R-000-V7T
111
TÃTULO: Simultaneous layer-by-layer analysis of thin-film samples using mass-separated ion scattering, mass-spectrometry of secondary ions techniques and measuring the sample's full current obraztsa
AUTORES: Tolstoguzov, AB; Grinvud, KL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Poverkhnost Rentgenovskie Sinkhronnye i Nejtronnye Issledovaniya, NÚMERO: 12
AUTORES: Tolstoguzov, AB; Grinvud, KL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Poverkhnost Rentgenovskie Sinkhronnye i Nejtronnye Issledovaniya, NÚMERO: 12
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112
TÃTULO: Energy distributions of secondary ions sputtered from aluminium and magnesium by Ne<SUP>+</SUP>, Ar<SUP>+</SUP> and O<sub>2</sub><SUP>+</SUP>:: a comprehensive study
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY, VOLUME: 214, NÚMERO: 3
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY, VOLUME: 214, NÚMERO: 3
113
TÃTULO: Hyperthermal and low-energy Ne<SUP>+</SUP> scattering from Au and Pt surfaces
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 183, NÚMERO: 1-2
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 183, NÚMERO: 1-2
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TÃTULO: Neutralization of low-energy Ne<SUP>+</SUP> ions scattered from metal surfaces:: study by mass-resolved ion-scattering spectrometry
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: SURFACE SCIENCE, VOLUME: 466, NÚMERO: 1-3
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C; Greenwood, CL;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: SURFACE SCIENCE, VOLUME: 466, NÚMERO: 1-3
115
TÃTULO: Compositional and optical properties GaN<i><sub>x</sub></i>As<sub>1-<i>x</i></sub> layers grown by MOCVD
AUTORES: Gaponova, DM; Danil'tsev, VM; Drozdov, MN; Drozdov, YN; Krasil'nikov, ZF; Revin, DG; Tolstoguzov, AB; Khrykin, OI; Shashkin, VI;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: IZVESTIYA AKADEMII NAUK SERIYA FIZICHESKAYA, VOLUME: 64, NÚMERO: 2
AUTORES: Gaponova, DM; Danil'tsev, VM; Drozdov, MN; Drozdov, YN; Krasil'nikov, ZF; Revin, DG; Tolstoguzov, AB; Khrykin, OI; Shashkin, VI;
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116
TÃTULO: Quadrupole secondary ion mass spectrometer for simultaneous detection of positive and negative ions Full Text
AUTORES: Daolio, S; Facchin, B; Pagura, C; Tolstogouzov, A; Konenkov, N;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 13, NÚMERO: 9
AUTORES: Daolio, S; Facchin, B; Pagura, C; Tolstogouzov, A; Konenkov, N;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 13, NÚMERO: 9
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117
TÃTULO: Evaluation of inelastic energy losses for low-energy Ne<SUP>+</SUP> ions scattered from aluminum and silicon surfaces
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: SURFACE SCIENCE, VOLUME: 441, NÚMERO: 1
AUTORES: Tolstogouzov, A; Daolio, S; Pagura, C;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: SURFACE SCIENCE, VOLUME: 441, NÚMERO: 1
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TÃTULO: Quadrupole secondary ion mass spectrometer for simultaneous detection of positive and negative ions Full Text
AUTORES: Daolio, S; Facchin, B; Pagura, C; Tolstogouzov, A; Konenkov, N;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry - Rapid Commun. Mass Spectrom., VOLUME: 13, NÚMERO: 9
AUTORES: Daolio, S; Facchin, B; Pagura, C; Tolstogouzov, A; Konenkov, N;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry - Rapid Commun. Mass Spectrom., VOLUME: 13, NÚMERO: 9
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119
TÃTULO: Secondary ion mass spectrometry investigation of liquid gallium recovery
AUTORES: Zakourdaev, IV; Tolstogouzov, AB; Gnido, VF; Kitaeva, TI;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: RAPID COMMUNICATIONS IN MASS SPECTROMETRY, VOLUME: 12, NÚMERO: 19
AUTORES: Zakourdaev, IV; Tolstogouzov, AB; Gnido, VF; Kitaeva, TI;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: RAPID COMMUNICATIONS IN MASS SPECTROMETRY, VOLUME: 12, NÚMERO: 19
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TÃTULO: Secondary ion mass spectrometry characterization of NdBa2Cu3O(7-x) and EuBa2Cu3O(7-x) single crystals Full Text
AUTORES: Fabrizio, M; Pagura, C; Tolstogouzov, A; Daolio, S; Ferretti, M; Magnone, E; Olcese, GL;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 11
AUTORES: Fabrizio, M; Pagura, C; Tolstogouzov, A; Daolio, S; Ferretti, M; Magnone, E; Olcese, GL;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 11