Clara Piccirillo
AuthID: R-000-Y4V
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TÃTULO: Secondary ion mass spectrometry in the characterisation of boron-based ceramics Full Text
AUTORES: Daolio, S; Fabrizio, M; Piccirillo, C; Muolo, ML; Passerone, A; Bellosi, A;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 15, NÚMERO: 1
AUTORES: Daolio, S; Fabrizio, M; Piccirillo, C; Muolo, ML; Passerone, A; Bellosi, A;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 15, NÚMERO: 1
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TÃTULO: The variation of optical absorption of CVD diamond as a function of temperature Full Text
AUTORES: Piccirillo, C; Davies, G; Mainwood, A; Penchina, CM;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 21st International Conference on Defects in Semiconductors in PHYSICA B-CONDENSED MATTER, VOLUME: 308
AUTORES: Piccirillo, C; Davies, G; Mainwood, A; Penchina, CM;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 21st International Conference on Defects in Semiconductors in PHYSICA B-CONDENSED MATTER, VOLUME: 308
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TÃTULO: Surface chemistry of RuO2/IrO2/TiO2 mixed-oxide electrodes: Secondary ion mass spectrometric study of the changes induced by electrochemical treatment Full Text
AUTORES: Barison, S; De Battisti, A; Fabrizio, M; Daolio, S; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 14, NÚMERO: 23
AUTORES: Barison, S; De Battisti, A; Fabrizio, M; Daolio, S; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 14, NÚMERO: 23
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TÃTULO: Characterization of dispersion-hardened electrodeposited gold composites. Part 1: SIMS and SEM study of powder inclusions Full Text
AUTORES: Barison, S; Daolio, S; Fabrizio, M; Piccirillo, C; Calliari, I; Armelao, L;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: CHEMISTRY OF MATERIALS, VOLUME: 12, NÚMERO: 10
AUTORES: Barison, S; Daolio, S; Fabrizio, M; Piccirillo, C; Calliari, I; Armelao, L;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: CHEMISTRY OF MATERIALS, VOLUME: 12, NÚMERO: 10
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TÃTULO: Secondary ion mass spectrometric investigation on ruthenium oxide systems: A comparison between poly- and nanocrystalline deposits Full Text
AUTORES: Barison, S; Barreca, D; Daolio, S; Fabrizio, M; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 14, NÚMERO: 14
AUTORES: Barison, S; Barreca, D; Daolio, S; Fabrizio, M; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 14, NÚMERO: 14
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TÃTULO: Investigations on the formation of RuO2/ZrO2-based electrocatalytic thin films by surface analysis techniques Full Text
AUTORES: Kristof, J; Daolio, S; De Battisti, A; Piccirillo, C; Mihaly, J; Horvath, E;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: LANGMUIR, VOLUME: 15, NÚMERO: 4
AUTORES: Kristof, J; Daolio, S; De Battisti, A; Piccirillo, C; Mihaly, J; Horvath, E;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: LANGMUIR, VOLUME: 15, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Secondary ion mass spectrometry characterization of IrO2-Ta2O5 thin films: Effect of relative composition on electrode properties Full Text
AUTORES: Daolio, S; De Battisti, A; Fabrizio, M; Nanni, L; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 20
AUTORES: Daolio, S; De Battisti, A; Fabrizio, M; Nanni, L; Piccirillo, C;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 20
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TÃTULO: Electroformed objects for jewelry: Secondary ion mass spectrometry characterization of Au films from CN-free electrolytes Full Text
AUTORES: Fabrizio, M; Piccirillo, C; Daolio, S;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 13
AUTORES: Fabrizio, M; Piccirillo, C; Daolio, S;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 12, NÚMERO: 13
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TÃTULO: SIMS characterization of noble metal-based thin film electrodes
AUTORES: Piccirillo, C; Daolio, S; Gelosi, S; Pagura, C; Facchin, B; Kristof, J;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Materials Science Forum, VOLUME: 235-238, NÚMERO: PART 2
AUTORES: Piccirillo, C; Daolio, S; Gelosi, S; Pagura, C; Facchin, B; Kristof, J;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Materials Science Forum, VOLUME: 235-238, NÚMERO: PART 2
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TÃTULO: Role of secondary ion mass spectrometric analysis in the brazing of precious alloys Full Text
AUTORES: Piccirillo, C; Fabrizio, M; Daolio, S; Facchin, B;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 11, NÚMERO: 12
AUTORES: Piccirillo, C; Fabrizio, M; Daolio, S; Facchin, B;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: Rapid Communications in Mass Spectrometry, VOLUME: 11, NÚMERO: 12
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