Eduardo Jorge da Costa Alves
AuthID: R-000-4EK
201
TÃTULO: Nanoscale triboactivity of functionalized c-Si surfaces by Fe+ ion implantation Full Text
AUTORES: Nunes, B; Alves, E; Colaco, R;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, VOLUME: 28, NÚMERO: 13
AUTORES: Nunes, B; Alves, E; Colaco, R;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, VOLUME: 28, NÚMERO: 13
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TÃTULO: EURADOS strategic research agenda: vision for dosimetry of ionising radiation
AUTORES: Ruehm, W; Fantuzzi, E; Harrison, R; Schuhmacher, H; Vanhavere, F; Alves, J; Bottollier F B Depois; Fattibene, P; Knezevic, Z; Lopez, MA; Mayer, S; Miljanic, S; Neumaier, S; Olko, P; Stadtmann, H; Tanner, R; Woda, C;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: RADIATION PROTECTION DOSIMETRY, VOLUME: 168, NÚMERO: 2
AUTORES: Ruehm, W; Fantuzzi, E; Harrison, R; Schuhmacher, H; Vanhavere, F; Alves, J; Bottollier F B Depois; Fattibene, P; Knezevic, Z; Lopez, MA; Mayer, S; Miljanic, S; Neumaier, S; Olko, P; Stadtmann, H; Tanner, R; Woda, C;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: RADIATION PROTECTION DOSIMETRY, VOLUME: 168, NÚMERO: 2
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TÃTULO: Quantitative x-ray diffraction analysis of bimodal damage distributions in Tm implanted Al0.15Ga0.85N Full Text
AUTORES: Magalhaes, S; Fialho, M; Peres, M; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 49, NÚMERO: 13
AUTORES: Magalhaes, S; Fialho, M; Peres, M; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, VOLUME: 49, NÚMERO: 13
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TÃTULO: Quantitative x-ray diffraction analysis of bimodal damage distributions in Tm implanted Al0.15Ga0.85N
AUTORES: Magalha∼es, S; Fialho, M; Peres, M; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics, VOLUME: 49, NÚMERO: 13
AUTORES: Magalha∼es, S; Fialho, M; Peres, M; Lorenz, K; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Journal of Physics D: Applied Physics, VOLUME: 49, NÚMERO: 13
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TÃTULO: Study of nuclear reactions producing 36Cl by micro-AMS Full Text
AUTORES: Luís, H; Jesus, AP ; Fonseca, M. ; Cruz, J ; Galaviz, D; Franco, N; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: 6th Nuclear Physics in Astrophysics, NPA 2013 in Journal of Physics: Conference Series, VOLUME: 665, NÚMERO: 1
AUTORES: Luís, H; Jesus, AP ; Fonseca, M. ; Cruz, J ; Galaviz, D; Franco, N; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: 6th Nuclear Physics in Astrophysics, NPA 2013 in Journal of Physics: Conference Series, VOLUME: 665, NÚMERO: 1
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TÃTULO: Project Fénix: What do students think about the factors that promote their learning? [Projeto Fénix: O que pensam os alunos sobre os fatores que promovem as suas aprendizagens?]
AUTORES: Alves, JM; Cabral, I;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Educacao e Pesquisa, VOLUME: 42, NÚMERO: 1
AUTORES: Alves, JM; Cabral, I;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: Educacao e Pesquisa, VOLUME: 42, NÚMERO: 1
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TÃTULO: Determination of Be-9(p,p(0))Be-9, Be-9(p,d(0))Be-8 and Be-9(p,alpha(0))Li-6 cross sections at 150 degrees in the energy range 0.5-2.35 MeV Full Text
AUTORES: Catarino, N; Barradas, NP; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: 22nd International Conference on Ion Beam Analysis (IBA) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 371
AUTORES: Catarino, N; Barradas, NP; Alves, E;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: 22nd International Conference on Ion Beam Analysis (IBA) in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 371
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TÃTULO: Mechanisms of Implantation Damage Formation in AlxGa1-xN Compounds
AUTORES: Nd. N Faye; Wendler, E; Felizardo, M ; Magalhaes, S; Alves, E; Brunner, F; Weyers, M; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, VOLUME: 120, NÚMERO: 13
AUTORES: Nd. N Faye; Wendler, E; Felizardo, M ; Magalhaes, S; Alves, E; Brunner, F; Weyers, M; Lorenz, K;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, VOLUME: 120, NÚMERO: 13
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TÃTULO: Design of experiments approach on the preparation of dry inhaler chitosan composite formulations by supercritical CO2-assisted spray-drying Full Text
AUTORES: Cabral, RP; Sousa, AML; Silva, AS; Paninho, AI; Temtem, M; Costa, E; Casimiro, T; Aguiar Ricardo, A;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF SUPERCRITICAL FLUIDS, VOLUME: 116
AUTORES: Cabral, RP; Sousa, AML; Silva, AS; Paninho, AI; Temtem, M; Costa, E; Casimiro, T; Aguiar Ricardo, A;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: JOURNAL OF SUPERCRITICAL FLUIDS, VOLUME: 116
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TÃTULO: Composition measurement of epitaxial ScxGa1-xN films Full Text
AUTORES: Tsui, HCL; Goff, LE; Barradas, NP; Alves, E; Pereira, S; Palgrave, RG; Davies, RJ; Beere, HE; Farrer, I; Ritchie, DA; Moram, MA;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 31, NÚMERO: 6
AUTORES: Tsui, HCL; Goff, LE; Barradas, NP; Alves, E; Pereira, S; Palgrave, RG; Davies, RJ; Beere, HE; Farrer, I; Ritchie, DA; Moram, MA;
PUBLICAÇÃO: 2016, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 31, NÚMERO: 6
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