Norbert Schell
AuthID: R-00F-A53
41
TÃTULO: Influence of the substrate bias on the size and thermal stability of grains in magnetron-sputtered nanocrystalline Ag films
AUTORES: Almtoft, KP; Bottiger, J; Chevallier, J; Schell, N; Martins, RMS;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH, VOLUME: 20, NÚMERO: 4
AUTORES: Almtoft, KP; Bottiger, J; Chevallier, J; Schell, N; Martins, RMS;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH, VOLUME: 20, NÚMERO: 4
42
TÃTULO: In situ x-ray diffraction studies concerning the influence of Al concentration on the texture development during sputter deposition of Ti-Al-N thin films
AUTORES: Beckers, M; Schell, N; Martins, RMS; Mucklich, A; Moller, W;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A, VOLUME: 23, NÚMERO: 5
AUTORES: Beckers, M; Schell, N; Martins, RMS; Mucklich, A; Moller, W;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A, VOLUME: 23, NÚMERO: 5
