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Biometric Identification from Facial Sketches of Poor Reliability: Comparison of Human and Machine Performance
AuthID
P-00K-73K
5
Author(s)
Proença, H
·
Neves, JC
·
Sequeiros, J
·
Carapito, N
·
Garcia, NC
Tipo de Documento
Article
Year published
2014
Publicado
in
Lecture Notes in Electrical Engineering,
ISSN: 1876-1100
Volume: 292, Páginas: 57-75
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Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1007/978-3-642-54080-6_3
SCOPUS
: 2-s2.0-84958532445
Source Identifiers
ISSN
: 1876-1100
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