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Efficiency Degradation in Wideband Power Amplifiers
AuthID
P-00P-M11
4
Author(s)
Nunes, LC
·
Barros, DR
·
Cabral, PM
·
Pedro, JC
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2018
Publicado
in
2018 IEEE/MTT-S INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM - IMS
in
IEEE MTT-S International Microwave Symposium,
ISSN: 0149-645X
Volume: 2018-June, Páginas: 636-639 (4)
Conference
Ieee/Mtt-S International Microwave Symposium,
Date:
JUN 10-15, 2018,
Location:
Philadelphia, PA,
Patrocinadores:
IEEE, MTT-S, RFIC, ARFTG, IMBIoC, IMS
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
2
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1109/mwsym.2018.8439692
SCOPUS
: 2-s2.0-85053058161
Wos
: WOS:000451173600168
Source Identifiers
ISSN
: 0149-645X
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