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A Fully Integrated and Reconfigurable Architecture for Coherent Self-Testing of High Speed Analog-To-Digital Converters
AuthID
P-002-PV6
4
Author(s)
Santin, E
·
Oliveira, LB
·
Nowacki, B
·
Goes, J
Tipo de Documento
Article
Year published
2011
Publicado
in
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS,
ISSN: 1549-8328
Volume: 58, Número: 7, Páginas: 1531-1541 (11)
Conference
Ieee International Symposium on Circuits and Systems (Iscas),
Date:
JUN, 2010,
Location:
Paris, FRANCE,
Patrocinadores:
IEEE
Indexing
Wos
®
Scopus
®
Crossref
®
Google Scholar
®
Metadata
Fontes
Publication Identifiers
DOI
:
10.1109/tcsi.2011.2143230
SCOPUS
: 2-s2.0-79959796238
Wos
: WOS:000295587100008
Source Identifiers
ISSN
: 1549-8328
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