Teresa Maria Fernandes Rodrigues Cabral Monteiro


AuthID: R-000-H53

Publicações Confirmadas: 296



271
TÍTULO: Strain distribution in GaN hexagons measured by Raman spectroscopy  Full Text
AUTORES: Seitz, R; Monteiro, T ; Pereira, E; di Forte Poisson, M;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 3rd International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS 99) in PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH, VOLUME: 216, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 1 Handle
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
272
TÍTULO: Strain relaxation in GaN films as a function of growth direction and buffer layer measured by Raman spectroscopy  Full Text
AUTORES: Seitz, R; Monteiro, T ; Pereira, E; Di Forte Poisson, M;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 3rd International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS 99) in PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH, VOLUME: 176, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: WOS CrossRef Handle
273
TÍTULO: Strain relaxation in GaN films as a function of growth direction and buffer layer measured by Raman spectroscopy  Full Text
AUTORES: Seitz, R; Monteiro, T ; Pereira, E; Di Forte Poisson, M;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Proceedings of the 1999 3rd International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS'99) in Physica Status Solidi (A) Applied Research, VOLUME: 176, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
274
TÍTULO: Time resolved photoluminescence of cubic Mg doped GaN
AUTORES: Seitz, R; Gaspar, C; Monteiro, T ; Pereira, E; Schoettker, B; Frey, T; As, DJ; Schikora, D; Lischka, K;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: Symposium on Wide-Bandgap Semiconductors for High-Power, High-Frequency and High-Temperature Applications-1999 at the 1999 MRS Spring Meeting in WIDE-BANDGAP SEMICONDUCTORS FOR HIGH-POWER, HIGH-FREQUENCY AND HIGH-TEMPERATURE APPLICATIONS-1999, VOLUME: 572
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID | CIÊNCIAVITAE
275
TÍTULO: Time resolved spectroscopy of mid-band-gap emissions in Si-doped GaN  Full Text
AUTORES: Seitz, R; Gaspar, C; Monteiro, T ; Pereira, E; Leroux, M; Beaumont, B; Gibart, P;
PUBLICAÇÃO: 1998, FONTE: 2nd International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS 97) in JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, VOLUME: 189
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 7
NO MEU: ORCID | ResearcherID | CIÊNCIAVITAE
276
TÍTULO: Blue emission in Mg doped GaN studied by time resolved spectroscopy
AUTORES: Seitz, R; Gaspar, C; Monteiro, T ; Pereira, E; Leroux, M; Beaumont, B; Gibart, P;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 19th International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-19) in DEFECTS IN SEMICONDUCTORS - ICDS-19, PTS 1-3, VOLUME: 258-2, NÚMERO: PART 2
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID | CIÊNCIAVITAE
277
TÍTULO: Broad emission band in GaN epitaxial layers grown on 6H-SiC and sapphire  Full Text
AUTORES: Monteiro, T ; Pereira, E; Correia, MR ; Xavier, C; Hofmann, DM; Meyer, BK; Fischer, S; Cremades, A; Piqueras, J;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: 1996 International Conference on luminescence and Optical Spectroscopy of Condensed Matter (ICL 96) in JOURNAL OF LUMINESCENCE, VOLUME: 72-4
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 10
NO MEU: ORCID | ResearcherID | CIÊNCIAVITAE
278
TÍTULO: Temperature behaviour of the yellow emission in GaN
AUTORES: Seitz, R; Gaspar, C; Monteiro, T ; Pereira, E; Leroux, M; Beaumont, B; Gibart, P;
PUBLICAÇÃO: 1997, FONTE: MRS INTERNET JOURNAL OF NITRIDE SEMICONDUCTOR RESEARCH, VOLUME: 2, NÚMERO: 33-41
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID | CIÊNCIAVITAE
279
TÍTULO: 2.2 eV luminescence in GaN
AUTORES: Hofmann, DM; Kovalev, D; Steude, G; Volm, D; Meyer, BK; Xavier, C; Monteiro, T ; Pereira, E; Mokov, EN; Amano, H; Akasaki, I;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 1st International Symposium on Gallium Nitride and Related Materials in GALLIUM NITRIDE AND RELATED MATERIALS, VOLUME: 395
INDEXADO EM: Scopus WOS
NO MEU: ORCID | ResearcherID | CIÊNCIAVITAE
280
TÍTULO: Cathodoluminescence study of GaN epitaxial layers  Full Text
AUTORES: Cremades, A; Piqueras, J; Xavier, C; Monteiro, T ; Pereira, E; Meyer, BK; Hofmann, DM; Fischer, S;
PUBLICAÇÃO: 1996, FONTE: 4th International Workshop on Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (BIADS 96) in MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, VOLUME: 42, NÚMERO: 1-3
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
NO MEU: ORCID | CIÊNCIAVITAE
Página 28 de 30. Total de resultados: 296.

Um espaço para investigadores e suas Instituições

Links Úteis

Ajuda

© 2025 CRACS & Inesc TEC - All Rights Reserved Política de Privacidade | Terms of Service