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Vasco Manuel Pinto Teixeira
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1994
1993
1992
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Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 117
91
TÃTULO:
Gas-sensitive response of SnO2 thin-film sensors produced by reactive DC magnetron sputtering
AUTORES:
Correia Pires, JM;
Almeida, JB
;
Teixeira, V
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
1st International Materials Symposium (Materials 2001)
in
ADVANCED MATERIALS FORUM I,
VOLUME:
230-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
92
TÃTULO:
Influence of elastic properties of substrate and coating on the residual stress distribution of FGM coatings
AUTORES:
Teixeira, V
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
1st International Materials Symposium (Materials 2001)
in
ADVANCED MATERIALS FORUM I,
VOLUME:
230-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
2
NO MEU:
ORCID
93
TÃTULO:
Microstructure study of indium tin oxide thin films by optical methods
Full Text
AUTORES:
Cui, HN
;
Teixeira, V
;
Monteiro, A
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
7th European Vacuum Conference (EVC-7)/3rd European Topical Conference on Hard Coatings (ETCHC-3)
in
VACUUM,
VOLUME:
67,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
94
TÃTULO:
Microwave plasma chemical vapour deposition diamond nucleation on ferrous substrates with Ti and Cr interlayers
Full Text
AUTORES:
Silva, FJG
;
Baptista, APM
;
Pereira, E
;
Teixeira, V
;
Fan, QH
;
Fernandes, AJS
;
Costa, FM
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
DIAMOND AND RELATED MATERIALS,
VOLUME:
11,
NÚMERO:
9
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
36
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
95
TÃTULO:
Residual stress and cracking in thin PVD coatings
Full Text
AUTORES:
Teixeira, V
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4)
in
VACUUM,
VOLUME:
64,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
96
TÃTULO:
Structural and optical characterization of WO3 deposited on glass and ITO
Full Text
AUTORES:
Monteiro, A
;
Costa, MF
;
Almeida, B
;
Teixeira, V
; Gago, J; Roman, E;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4)
in
VACUUM,
VOLUME:
64,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
97
TÃTULO:
Study of ZrO2/Al2O3 multilayers
Full Text
AUTORES:
Gao, PT;
Meng, LJ
;
dos Santos, MP
;
Teixeira, V
;
Andritschky, M
;
PUBLICAÇÃO:
2002
,
FONTE:
4th Iberian Vacuum Meeting (IVM-4)
in
VACUUM,
VOLUME:
64,
NÚMERO:
3-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
98
TÃTULO:
Determination of biaxial modulus of chemical vapor-deposited diamond films
Full Text
AUTORES:
Fan, QH
;
Gracio, J
;
Pereira, E
;
Teixeirae, V
;
Tavares, CJ
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
28th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
398
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
:
4
NO MEU:
ORCID
99
TÃTULO:
Influence of sputtering pressure on the structure and properties of ZrO2 films prepared by rf reactive sputtering
Full Text
AUTORES:
Gao, PT;
Meng, LJ
;
dos Santos, MP
;
Teixeira, V
;
Andritschky, M
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
APPLIED SURFACE SCIENCE,
VOLUME:
173,
NÚMERO:
1-2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
100
TÃTULO:
Mechanical integrity in PVD coatings due to the presence of residual stresses
Full Text
AUTORES:
Teixeira, V
;
PUBLICAÇÃO:
2001
,
FONTE:
3rd International Conference on Coatings and Glass (ICCG)
in
THIN SOLID FILMS,
VOLUME:
392,
NÚMERO:
2
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
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