Mário Manuel Silveira Rodrigues


AuthID: R-000-JYA

Publicações Confirmadas: 35



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TÍTULO: Integration of an Atomic Force Microscope in a Beamline Sample Environment  Full Text
AUTORES: Rodrigues, MS ; Hrouzek, M; Dhez, O; Chevrier, J; Comin, F; Garrett, R; Gentle, I; Nugent, K; Wilkins, S;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 10th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation in SRI 2009: THE 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SYNCHROTRON RADIATION INSTRUMENTATION, VOLUME: 1234
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TÍTULO: In situ observation of the elastic deformation of a single epitaxial SiGe crystal by combining atomic force microscopy and micro x-ray diffraction  Full Text
AUTORES: Rodrigues, MS ; Cornelius, TW; Scheler, T; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Dhez, O; Comin, F; Metzger, TH; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, VOLUME: 106, NÚMERO: 10
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TÍTULO: Probing the elastic properties of individual nanostructures by combining in situ atomic force microscopy and micro-x-ray diffraction  Full Text
AUTORES: Scheler, T; Rodrigues, M ; Cornelius, TW; Mocuta, C; Malachias, A; Magalhaes Paniago, R; Comin, F; Chevrier, J; Metzger, TH;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME: 94, NÚMERO: 2
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TÍTULO: Local detection of X-ray spectroscopies with an in-situ Atomic Force Microscope
AUTORES: Rodrigues, MS ; Dhez, O; Le Denmat, S; Chevrier, J; Felici, R; Comin, F;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: JOURNAL OF INSTRUMENTATION, VOLUME: 3, NÚMERO: 12
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TÍTULO: X-ray pushing of a mechanical microswing  Full Text
AUTORES: Siria, A; Rodrigues, MS ; Dhez, O; Schwartz, W; Torricelli, G; LeDenmat, S; Rochat, N; Auvert, G; Bikondoa, O; Metzger, TH; Wermeille, D; Felici, R; Comin, F; Chevrier, J;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 19, NÚMERO: 44
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