Jorge Filipe Leal Costa Semião


AuthID: R-001-F67

Publicações Confirmadas: 84



51
TÍTULO: The Influence of Clock-Gating On NBTI-Induced Delay Degradation
AUTORES: Pachito, J; Martins, CV; Jorge Semião ; Santos, M ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2012, FONTE: IEEE 18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) in 2012 IEEE 18TH INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM (IOLTS)
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52
TÍTULO: Adaptive Error-Prediction Flip-flop for Performance Failure Prediction with Aging Sensors
AUTORES: Martins, CV; Jorge Semião ; Vazquez, JC; Champac, V; Santos, M ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 29th IEEE VLSI Test Symposium (VTS)/Workshop on Design for Reliability and Variability (DRV) in 2011 IEEE 29TH VLSI TEST SYMPOSIUM (VTS)
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TÍTULO: IP core to leverage RTOS-based embedded systems reliability to electromagnetic interference
AUTORES: Silva, D; Poehls, LB; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ; Valdes, M; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 8th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, EMC COMPO 2011 in Proceedings of the 8th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits 2011, EMC COMPO 2011
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54
TÍTULO: Lower V DD operation of FPGA-based digital circuits through delay modeling and time borrowing
AUTORES: Freijedo, J; Valdes, MD; Costas, L; Moure, MJ; Rodriguez Andina, JJ; Jorge Semião ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 7, NÚMERO: 2
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TÍTULO: Modeling the effect of process variations on the timing response of nanometer digital circuits
AUTORES: Freijedo, J; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 12th IEEE Latin-American Test Workshop, LATW 2011 in LATW 2011 - 12th IEEE Latin-American Test Workshop
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TÍTULO: On-line BIST for performance failure prediction under aging effects in automotive safety-critical applications
AUTORES: Oliveira, RS; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 12th IEEE Latin-American Test Workshop, LATW 2011 in LATW 2011 - 12th IEEE Latin-American Test Workshop
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TÍTULO: On-line BIST for performance failure prediction under NBTI-induced aging in safety-critical applications
AUTORES: Oliveira, RS; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Santos, MB ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: Journal of Low Power Electronics, VOLUME: 7, NÚMERO: 4
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TÍTULO: Performance failure prediction using built-in delay sensors in FPGAs
AUTORES: Bexiga, V; Leong, C; Jorge Semião ; Ic Teixeira ; Teixeira, JP ; Valdes, M; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 21st International Conference on Field Programmable Logic and Applications, FPL 2011 in Proceedings - 21st International Conference on Field Programmable Logic and Applications, FPL 2011
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TÍTULO: Programmable sensor for on-line checking of signal integrity in FPGA-based systems subject to aging effects
AUTORES: Valdes, M; Freijedo, J; Moure, MJ; Rodriguez Andina, JJ; Jorge Semião ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2011, FONTE: 12th IEEE Latin-American Test Workshop, LATW 2011 in LATW 2011 - 12th IEEE Latin-American Test Workshop
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60
TÍTULO: Delay modeling for power noise-aware design in Spartan-3A FPGAS
AUTORES: Freijedo, JF; Valdes, MD; Moure, MJ; Costas, L; Rodriguez Andina, JJ; Jorge Semião ; Vargas, F; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 6th Southern Programmable Logic Conference, SPL 2010 in 6th Southern Programmable Logic Conference, SPL 2010 - Proceedings
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