Jorge Filipe Leal Costa Semião


AuthID: R-001-F67

Publicações Confirmadas: 84



81
TÍTULO: Quality of electronic design: from architectural level to test coverage
AUTORES: O.P Dias; M.B Santos; J.P Teixeira; Jorge Semião ; I.M Teixeira;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Proceedings IEEE 2000 First International Symposium on Quality Electronic Design (Cat. No. PR00525)
INDEXADO EM: CrossRef: 3
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82
TÍTULO: Test resource partitioning: a design & test issue
AUTORES: Teixeira, JP; Teixeira, IM; Pereira, CE; Dias, OP; Jorge Semião ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2001) in DESIGN, AUTOMATION AND TEST IN EUROPE, CONFERENCE AND EXHIBITION 2001, PROCEEDINGS
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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83
TÍTULO: From system level to defect-oriented test: A case study
AUTORES: Dias, OP; Jorge Semião ; Santos, MB; Teixeira, IM; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 1999 European Test Workshop, ETW 1999 in Proceedings - European Test Workshop 1999, ETW 1999
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
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84
TÍTULO: Hardware/software specification, design and test using a system level approach
AUTORES: DIas, OP; Jorge Semião ; Pereira, CE; Teixeira, IM; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 12th Brazilian Symposium on Integrated Circuits and Systems Design, SBCCI 1999 in Proceedings - 12th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design, SBCCI 1999
INDEXADO EM: Scopus CrossRef
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