Jose Carlos Esteves Duarte Pedro


AuthID: R-000-86A

Publicações Confirmadas: 278



31
TÍTULO: Hybrid Analog/Digital Linearization of GaN HEMT-Based Power Amplifiers
AUTORES: Tome, PM; Barradas, FM; Cunha, TR; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, VOLUME: 67, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 27
NO MEU: ORCID
32
TÍTULO: Impact of the Input Baseband Terminations on the Efficiency of Wideband Power Amplifiers under Concurrent Band Operation
AUTORES: Barros, DR; Nunes, LC; Cabral, PM; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, VOLUME: 67, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 10
NO MEU: ORCID
33
TÍTULO: Linearity and Efficiency in 5G Transmitters  Full Text
AUTORES: Christian Fager; Thomas Eriksson; Filipe Barradas; Katharina Hausmair; Telmo Cunha; Jose Carlos Pedro ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE MICROWAVE MAGAZINE, VOLUME: 20, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: WOS
34
TÍTULO: Linearity and Efficiency in 5G Transmitters: New Techniques for Analyzing Efficiency, Linearity, and Linearization in a 5G Active Antenna Transmitter Context
AUTORES: Fager, C; Eriksson, T; Barradas, F; Hausmair, K; Cunha, T; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE Microwave Magazine, VOLUME: 20, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus CrossRef: 117
NO MEU: ORCID
35
TÍTULO: Memristive Properties of GaN HEMTs Containing Deep-Level Traps
AUTORES: Gomes, JL; Nunes, LC; Sobolev, NA; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: Symposium K on Defect-Induced Effects in Nanomaterials at the Meeting of the European-Materials-Research-Society in PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS, VOLUME: 256, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 4
NO MEU: ORCID
36
TÍTULO: Switch-Based Variable Length Stubs Network for PA Load Sensitivity Reduction
AUTORES: Goncalves, CF; Barradas, FM; Cabral, PM; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE ACCESS, VOLUME: 7
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 13
NO MEU: ORCID
37
TÍTULO: A Simple Method to Extract Trapping Time Constants of GaN HEMTs
AUTORES: Nunes, LC; Gomes, JL; Cabral, PM; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: IEEE/MTT-S International Microwave Symposium in 2018 IEEE/MTT-S INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM - IMS, VOLUME: 2018-June
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 13
38
TÍTULO: Editorial
AUTORES: Perregrini, L; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, VOLUME: 66, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: WOS CrossRef
NO MEU: ORCID
39
TÍTULO: Editorial
AUTORES: Perregrini, L; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, VOLUME: 66, NÚMERO: 4
INDEXADO EM: Scopus
NO MEU: ORCID
40
TÍTULO: Efficiency Degradation Analysis in Wideband Power Amplifiers
AUTORES: Nunes, LC; Barros, DR; Cabral, PM; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2018, FONTE: IEEE-MTT-Society International Microwave Symposium (IMS) in IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, VOLUME: 66, NÚMERO: 12
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef: 13
NO MEU: ORCID
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