311
TÍTULO: Optical doping of nitrides by ion implantation  Full Text
AUTORES: Alves, E ; Lorenz, K ; Vianden, R; Boemare, C; Soares, MJ ; Monteiro, T ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Workshop on Advanced Materials Produced and Analyzed with Ion Beams in MODERN PHYSICS LETTERS B, VOLUME: 15, NÚMERO: 28-29
INDEXADO EM: Scopus WOS
312
TÍTULO: OPTICAL DOPING OF NITRIDES BY ION IMPLANTATION  Full Text
AUTORES: ALVES, E ; LORENZ, K ; VIANDEN, R; BOEMARE, C; SOARES, MJ; MONTEIRO, T ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Modern Physics Letters B - Mod. Phys. Lett. B, VOLUME: 15, NÚMERO: 28n29
INDEXADO EM: CrossRef: 23
313
TÍTULO: Photoluminescence and lattice location of Eu and Pr implanted GaN samples  Full Text
AUTORES: Monteiro, T ; Boemare, C; Soares, MJ ; Ferreira, RAS ; Carlos, LD ; Lorenz, K ; Vianden, R; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: 21st International Conference on Defects in Semiconductors in PHYSICA B-CONDENSED MATTER, VOLUME: 308
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef Handle
314
TÍTULO: Defect trapping and annealing for transition metal implants in group III nitrides
AUTORES: Lorenz, K ; Vianden, R; Pearton, SJ; Abernathy, CR; Zavada, JM;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: MRS INTERNET JOURNAL OF NITRIDE SEMICONDUCTOR RESEARCH, VOLUME: 5, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
315
TÍTULO: RBS/channeling study of Er doped GaN films grown by MBE on Si(111) substrates  Full Text
AUTORES: Lorenz, K ; Vianden, R; Birkhahn, R; Steckl, AJ; da Silva, MF; Soares, JC; Alves, E ;
PUBLICAÇÃO: 2000, FONTE: 14th International Conference on Ion Beam Analysis/6th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, VOLUME: 161
INDEXADO EM: Scopus WOS CrossRef
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