Telmo Reis Cunha
AuthID: R-000-H2H
1
TÃTULO: Signal and Power Integrity IO Buffer Modeling Under Separate Power and Ground Supply Voltage Variation of the Input and Output Stages
AUTORES: Souilem, Malek; Zgolli, Nawel; Cunha, Telmo Reis; Dghais, Wael; Belgacem, Hamdi;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, VOLUME: 31, NÚMERO: 6
AUTORES: Souilem, Malek; Zgolli, Nawel; Cunha, Telmo Reis; Dghais, Wael; Belgacem, Hamdi;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, VOLUME: 31, NÚMERO: 6
2
TÃTULO: A Hammerstein-Like Broadband ANN-Based Transistor Behavioral Model
AUTORES: Louro, Joao; Nunes, Luis C.; Barradas, Filipe M.; Cunha, Telmo R.; Cabral, Pedro M.; Pedro, Jose C. ;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, VOLUME: 72, NÚMERO: 6
AUTORES: Louro, Joao; Nunes, Luis C.; Barradas, Filipe M.; Cunha, Telmo R.; Cabral, Pedro M.; Pedro, Jose C. ;
PUBLICAÇÃO: 2023, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, VOLUME: 72, NÚMERO: 6
3
TÃTULO: Characterization, Modeling, and Compensation of the Dynamic Self-Biasing Behavior of GaN HEMT-Based Power Amplifiers
AUTORES: Tome, PM; Barradas, FM; Nunes, LC; Gomes, JL; Cunha, TR;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, VOLUME: 69, NÚMERO: 1
AUTORES: Tome, PM; Barradas, FM; Nunes, LC; Gomes, JL; Cunha, TR;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, VOLUME: 69, NÚMERO: 1
4
TÃTULO: "Cinderellas" of Our Mozambique Wish to Speak: A Feminist Perspective on Extractivism
AUTORES: Cunha, T; Casimiro, I;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: FEMINIST AFRICA, VOLUME: 2, NÚMERO: 1
AUTORES: Cunha, T; Casimiro, I;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: FEMINIST AFRICA, VOLUME: 2, NÚMERO: 1
INDEXADO EM: 
WOS
WOS5
TÃTULO: A Review of Memory Effects in AlGaN/GaN HEMT Based RF PAs
AUTORES: Pedro, Jose ; Tome, Pedro; Cunha, Telmo; Barradas, Filipe; Nunes, Luis; Cabral, Pedro; Gomes, Joao;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: 8th IEEE MTT-S International Wireless Symposium (IWS) part of China Microwave Week in 2021 IEEE MTT-S INTERNATIONAL WIRELESS SYMPOSIUM (IWS 2021)
AUTORES: Pedro, Jose ; Tome, Pedro; Cunha, Telmo; Barradas, Filipe; Nunes, Luis; Cabral, Pedro; Gomes, Joao;
PUBLICAÇÃO: 2021, FONTE: 8th IEEE MTT-S International Wireless Symposium (IWS) part of China Microwave Week in 2021 IEEE MTT-S INTERNATIONAL WIRELESS SYMPOSIUM (IWS 2021)
6
TÃTULO: A Multiple-Time-Scale Analog Circuit for the Compensation of Long-Term Memory Effects in GaN HEMT-Based Power Amplifiers
AUTORES: Tome, PM; Barradas, FM; Cunha, TR; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2020, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, VOLUME: 68, NÚMERO: 9
AUTORES: Tome, PM; Barradas, FM; Cunha, TR; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2020, FONTE: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, VOLUME: 68, NÚMERO: 9
8
TÃTULO: Estimation of the nearshore bathymetry from high temporal resolution Sentinel-1A C-band SAR data - A case study
AUTORES: Pereira, P; Baptista, P ; Cunha, T; Silva, PA; Romao, S; Lafon, V;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: REMOTE SENSING OF ENVIRONMENT, VOLUME: 223
AUTORES: Pereira, P; Baptista, P ; Cunha, T; Silva, PA; Romao, S; Lafon, V;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: REMOTE SENSING OF ENVIRONMENT, VOLUME: 223
9
TÃTULO: Linearity and Efficiency in 5G Transmitters: New Techniques for Analyzing Efficiency, Linearity, and Linearization in a 5G Active Antenna Transmitter Context
AUTORES: Fager, C; Eriksson, T; Barradas, F; Hausmair, K; Cunha, T; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE Microwave Magazine, VOLUME: 20, NÚMERO: 5
AUTORES: Fager, C; Eriksson, T; Barradas, F; Hausmair, K; Cunha, T; Pedro, JC ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE Microwave Magazine, VOLUME: 20, NÚMERO: 5
10
TÃTULO: Linearity and Efficiency in 5G Transmitters Full Text
AUTORES: Christian Fager; Thomas Eriksson; Filipe Barradas; Katharina Hausmair; Telmo Cunha; Jose Carlos Pedro ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE MICROWAVE MAGAZINE, VOLUME: 20, NÚMERO: 5
AUTORES: Christian Fager; Thomas Eriksson; Filipe Barradas; Katharina Hausmair; Telmo Cunha; Jose Carlos Pedro ;
PUBLICAÇÃO: 2019, FONTE: IEEE MICROWAVE MAGAZINE, VOLUME: 20, NÚMERO: 5
INDEXADO EM: WOS
WOS