Francisco Andre Correa Alegria
AuthID: R-000-59K
1
TÃTULO: Phase Noise Influence on the Transfer Function Estimation of Analog to Digital Converters Using the Histogram Method
AUTORES: Alegria, Francisco A. C.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: IEEE ACCESS, VOLUME: 13
AUTORES: Alegria, Francisco A. C.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: IEEE ACCESS, VOLUME: 13
2
TÃTULO: Contribution of Jitter and Phase Noise to the Precision of Sinusoidal Amplitude Estimation Using Coherent Sampling
AUTORES: Alegria, Francisco A. C.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: SCI, VOLUME: 7, NÚMERO: 2
AUTORES: Alegria, Francisco A. C.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: SCI, VOLUME: 7, NÚMERO: 2
3
TÃTULO: Experimental validation of the precision of sinusoidal amplitude estimation using a least squares procedure in the presence of additive noise Full Text
AUTORES: Mohsen Barzegar; Francisco Alegria;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: Scientific Reports, VOLUME: 15, NÚMERO: 1
AUTORES: Mohsen Barzegar; Francisco Alegria;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: Scientific Reports, VOLUME: 15, NÚMERO: 1
4
TÃTULO: Expected value of the root mean square of sinefitting residuals in the presence of phase noise or sampling jitter
AUTORES: Alegria, Francisco Andre Correa;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: TM-TECHNISCHES MESSEN
AUTORES: Alegria, Francisco Andre Correa;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: TM-TECHNISCHES MESSEN
5
TÃTULO: Analytical derivation of sinusoidal offset estimation for finite-time series in the presence of phase noise or jitter Full Text
AUTORES: Alegria, Francisco;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 36, NÚMERO: 8
AUTORES: Alegria, Francisco;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 36, NÚMERO: 8
6
TÃTULO: Phase noise contribution to the precision of differential non-linearity estimation in analog-to-digital converters using the code density test
AUTORES: Alegria, Francisco;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: ACTA IMEKO, VOLUME: 14, NÚMERO: 2
AUTORES: Alegria, Francisco;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: ACTA IMEKO, VOLUME: 14, NÚMERO: 2
7
TÃTULO: Expected value of the root mean square of sinefitting residuals in the presence of phase noise or sampling jitter; [Erwartungswert des quadratischen Mittels der Sinefitting-Residuen bei Vorhandensein von Phasenrauschen oder Abtast-Jitter]
AUTORES: Francisco André Corrêa Alegria;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: Technisches Messen
AUTORES: Francisco André Corrêa Alegria;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: Technisches Messen
INDEXADO EM: 
Scopus
Scopus NO MEU: 
ORCID
ORCID8
TÃTULO: High Sensitive ECT Probe for Detection of Deeply Buried Defects
AUTORES: Xie, Lian; Baskaran, Prashanth; Ribeiro, Artur L.; Alegria, Francisco C.; Feng, Bo; Ramos, Helena G.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: 2025 International Instrumentation and Measurement Technology Conference-I2MTC-Annual in 2025 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, I2MTC
AUTORES: Xie, Lian; Baskaran, Prashanth; Ribeiro, Artur L.; Alegria, Francisco C.; Feng, Bo; Ramos, Helena G.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: 2025 International Instrumentation and Measurement Technology Conference-I2MTC-Annual in 2025 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE, I2MTC
9
TÃTULO: Estimation of the Root Mean Square of the Residuals of Sine Fitting in the Presence of Phase Noise or Jitter
AUTORES: Alegria, Francisco A. C.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: IEEE ACCESS, VOLUME: 13
AUTORES: Alegria, Francisco A. C.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: IEEE ACCESS, VOLUME: 13
10
TÃTULO: Damage Imaging in a CFRP Plate Using UGW-Based Handheld Probe Full Text
AUTORES: Pasadas, Dario J.; Barzegar, Mohsen; Zhang, Muchao; Alegria, Francisco; Ribeiro, Artur L.; Ramos, Helena G.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: IEEE SENSORS JOURNAL, VOLUME: 25, NÚMERO: 20
AUTORES: Pasadas, Dario J.; Barzegar, Mohsen; Zhang, Muchao; Alegria, Francisco; Ribeiro, Artur L.; Ramos, Helena G.;
PUBLICAÇÃO: 2025, FONTE: IEEE SENSORS JOURNAL, VOLUME: 25, NÚMERO: 20
