Katharina Lorenz
AuthID: R-000-90E
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TÃTULO: Rare earth ion implantation and optical activation in nitride semiconductors for multicolor emission Full Text
AUTORES: Pierre Ruterana; Marie Pierre Chauvat; Katharina Lorenz;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 30, NÚMERO: 4
AUTORES: Pierre Ruterana; Marie Pierre Chauvat; Katharina Lorenz;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, VOLUME: 30, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Ion damage overrides structural disorder in silicon surface nanopatterning by low-energy ion beam sputtering
AUTORES: Moreno Barrado, A; Gago, R; Redondo Cubero, A; Vazquez, L; Munoz Garcia, J; Cuerno, R; Lorenz, K; Castro, M;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: EPL, VOLUME: 109, NÚMERO: 4
AUTORES: Moreno Barrado, A; Gago, R; Redondo Cubero, A; Vazquez, L; Munoz Garcia, J; Cuerno, R; Lorenz, K; Castro, M;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: EPL, VOLUME: 109, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Luminescence studies on green emitting InGaN/GaN MQWs implanted with nitrogen Full Text
AUTORES: Marco A Sousa; Teresa C Esteves; Nabiha Ben Sedrine; Joana Rodrigues; Marcio B Lourenco; Andres Redondo Cubero; Eduardo Alves; Kevin P O'Donnell; Michal Bockowski; Christian Wetzel; Maria R Correia; Katharina Lorenz; Teresa Monteiro;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 5
AUTORES: Marco A Sousa; Teresa C Esteves; Nabiha Ben Sedrine; Joana Rodrigues; Marcio B Lourenco; Andres Redondo Cubero; Eduardo Alves; Kevin P O'Donnell; Michal Bockowski; Christian Wetzel; Maria R Correia; Katharina Lorenz; Teresa Monteiro;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 5
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TÃTULO: Indirect excitation of Eu3+ in GaN codoped with Mg and Eu Full Text
AUTORES: Yamaga, M; Watanabe, H; Kurahashi, M; O'Donnell, KP; Lorenz, K; Bockowski, M;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: 6th International Conference on Optical, Optoelectronic and Photonic Materials and Applications (ICOOPMA) in 6TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICAL, OPTOELECTRONIC AND PHOTONIC MATERIALS AND APPLICATIONS (ICOOPMA) 2014, VOLUME: 619, NÚMERO: 1
AUTORES: Yamaga, M; Watanabe, H; Kurahashi, M; O'Donnell, KP; Lorenz, K; Bockowski, M;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: 6th International Conference on Optical, Optoelectronic and Photonic Materials and Applications (ICOOPMA) in 6TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICAL, OPTOELECTRONIC AND PHOTONIC MATERIALS AND APPLICATIONS (ICOOPMA) 2014, VOLUME: 619, NÚMERO: 1
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TÃTULO: Spectroscopic Analysis of Eu3+ Implanted and Annealed GaN Layers and Nanowires
AUTORES: Rodrigues, J; Leitao, MF; Carreira, JFC; Ben Sedrine, N; Santos, NF; Felizardo, M ; Auzelle, T; Daudin, B; Alves, E; Neves, AJ; Correia, MR; Costa, FM; Lorenz, K; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, VOLUME: 119, NÚMERO: 31
AUTORES: Rodrigues, J; Leitao, MF; Carreira, JFC; Ben Sedrine, N; Santos, NF; Felizardo, M ; Auzelle, T; Daudin, B; Alves, E; Neves, AJ; Correia, MR; Costa, FM; Lorenz, K; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C, VOLUME: 119, NÚMERO: 31
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TÃTULO: Quantitative Chemical Mapping of InGaN Quantum Wells from Calibrated High-Angle Annular Dark Field Micrographs
AUTORES: Carvalho, D; Morales, FM; Ben, T; Garcia, R; Redondo Cubero, A; Alves, E; Lorenz, K; Edwards, PR; O'Donnell, KP; Wetzel, C;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, VOLUME: 21, NÚMERO: 4
AUTORES: Carvalho, D; Morales, FM; Ben, T; Garcia, R; Redondo Cubero, A; Alves, E; Lorenz, K; Edwards, PR; O'Donnell, KP; Wetzel, C;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, VOLUME: 21, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Photoluminescence studies of a perceived white light emission from a monolithic InGaN/GaN quantum well structure Full Text
AUTORES: Ben Sedrine, N; Esteves, TC; Rodrigues, J; Rino, L; Correia, MR; Sequeira, MC; Neves, AJ; Alves, E; Bockowski, M; Edwards, PR; O'Donnell, KP; Lorenz, K; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 5
AUTORES: Ben Sedrine, N; Esteves, TC; Rodrigues, J; Rino, L; Correia, MR; Sequeira, MC; Neves, AJ; Alves, E; Bockowski, M; Edwards, PR; O'Donnell, KP; Lorenz, K; Monteiro, T;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: SCIENTIFIC REPORTS, VOLUME: 5
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TÃTULO: Analysis of the stability of InGaN/GaN multiquantum wells against ion beam intermixing Full Text
AUTORES: Redondo Cubero, A; Lorenz, K; Wendler, E; Magalhaes, S; Alves, E; Carvalho, D; Ben, T; Morales, FM; Garcia, R; O'Donnell, KP; Wetzel, C;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 26, NÚMERO: 42
AUTORES: Redondo Cubero, A; Lorenz, K; Wendler, E; Magalhaes, S; Alves, E; Carvalho, D; Ben, T; Morales, FM; Garcia, R; O'Donnell, KP; Wetzel, C;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: NANOTECHNOLOGY, VOLUME: 26, NÚMERO: 42
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TÃTULO: Ion damage overrides structural disorder in silicon surface nanopatterning by low-energy ion beam sputtering
AUTORES: Moreno-Barrado, A; Gago, R; Redondo-Cubero, A; Vázquez, L; Muñoz-García, J; Cuerno, R; Lorenz, K; Castro, M;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: EPL - EPL (Europhysics Letters), VOLUME: 109, NÚMERO: 4
AUTORES: Moreno-Barrado, A; Gago, R; Redondo-Cubero, A; Vázquez, L; Muñoz-García, J; Cuerno, R; Lorenz, K; Castro, M;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: EPL - EPL (Europhysics Letters), VOLUME: 109, NÚMERO: 4
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TÃTULO: Analysis of the stability of InGaN/GaN multiquantum wells against ion beam intermixing Full Text
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Lorenz, K; Wendler, E; Magalhães, S; Alves, E; Carvalho, D; Ben, T; Morales, FM; García, R; O’Donnell, KP; Wetzel, C;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Nanotechnology, VOLUME: 26, NÚMERO: 42
AUTORES: Redondo-Cubero, A; Lorenz, K; Wendler, E; Magalhães, S; Alves, E; Carvalho, D; Ben, T; Morales, FM; García, R; O’Donnell, KP; Wetzel, C;
PUBLICAÇÃO: 2015, FONTE: Nanotechnology, VOLUME: 26, NÚMERO: 42
