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Jorge Filipe Leal Costa Semião
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R-001-F67
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Proceedings Paper (55)
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2004
2003
2002
2001
2000
1999
Order:
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Ano Asc
Cit. WOS Dsc
IF WOS Dsc
Cit. Scopus Dsc
IF Scopus Dsc
Título Asc
Título Dsc
Results:
10
20
30
40
50
Publicações Confirmadas: 81
61
TÃTULO:
Delay-Fault Tolerance to Power Supply Voltage Disturbances Analysis in Nanometer Technologies
Full Text
AUTORES:
Jorge Semião
;
Freijedo, J
; Rodriguez Andina, J;
Vargas, F
;
Santos, M
;
Teixeira, I
;
Teixeira, P
;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
15th IEEE International On-Line Testing Symposium
in
2009 15TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
62
TÃTULO:
Measuring Clock-Signal Modulation Efficiency for Systems-on-Chip in Electromagnetic Interference Environment
AUTORES:
Jorge Semião
;
Freijedo, J
; Moraes, M; Mallmann, M;
Antunes, C
; Benfica, J;
Vargas, F
;
Santos, M
;
Teixeira, IC
; Rodriguez Andina, JJR;
Teixeira, JP
; Lupi, D; Gatti, E;
Garcia, L
; Hernandez, F;
PUBLICAÇÃO:
2009
,
FONTE:
10th Latin American Test Workshop
in
LATW: 2009 10TH LATIN AMERICAN TEST WORKSHOP
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
63
TÃTULO:
Delay modeling for power noise and temperature-aware design and test of digital systems
AUTORES:
Freijedo, JF
;
Jorge Semião
; Rodriguez Andina, JJ;
Vargas, F
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
Journal of Low Power Electronics,
VOLUME:
4,
NÚMERO:
3
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
64
TÃTULO:
Exploiting parametric power supply and/or temperature variations to improve fault tolerance in digital circuits
AUTORES:
Jorge Semião
;
Freijedo, J
;
Andina, J
;
Vargas, F
;
Santos, M
;
Teixeira, I
;
Teixeira, P
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
14th IEEE International On-Line Testing Symposium
in
14TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
65
TÃTULO:
Power-Supply Instability Aware Clock Signal Modulation for Digital Integrated Circuits
AUTORES:
Jorge Semião
;
Freijedo, J
; Moraes, M; Mallmann, M;
Antunes, C
; Rocha, L; Benfica, J;
Vargas, F
;
Santos, M
;
Teixeira, IC
; Rodriguez Andina, JJR;
Teixeira, JP
;
Lupi, D
; Gatti, E;
Garcia, L
; Hernandez, F;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
International Symposium on Electromagnetic Compatibility
in
2008 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC EUROPE)
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
66
TÃTULO:
Process tolerant design using thermal and power-supply tolerance in pipeline based circuits
AUTORES:
Jorge Semião
; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F;
Santos, M
;
Teixeira, I
;
Teixeira, P
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
11th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
in
2008 IEEE WORKSHOP ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS, PROCEEDINGS
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
67
TÃTULO:
Robust Solution for Synchronous Communication among Multi Clock Domains
AUTORES:
Jorge Semião
;
Varela, J
;
Freijedo, J
; Andina, J;
Leong, C
;
Teixeira, JP
;
Teixeira, I
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS 2008)
in
2008 IEEE ASIA PACIFIC CONFERENCE ON CIRCUITS AND SYSTEMS (APCCAS 2008), VOLS 1-4
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
68
TÃTULO:
Signal integrity enhancement in digital circuits
Full Text
AUTORES:
Jorge Semião
; Marcial Jesus R Rodriguez Irago; Juan J Rodriguez Andina; Leonardo Bisch Piccoli;
Fabian Luis Vargas
;
Marcelino Bicho dos Santos
;
Isabel Maria C Cacho Teixeira
;
Joao Paulo Teixeira
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS,
VOLUME:
25,
NÚMERO:
5
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
|
CIÊNCIAVITAE
69
TÃTULO:
Time Management for Low-Power Design of Digital Systems
AUTORES:
Jorge Semião
;
Freijedo, JF
; Rodriguez Andina, JJ;
Vargas, F
;
Santos, MB
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2008
,
FONTE:
Journal of Low Power Electronics,
VOLUME:
4,
NÚMERO:
3
INDEXADO EM:
Scopus
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
CIÊNCIAVITAE
70
TÃTULO:
Enhancing the tolerance to power-supply instability in digital circuits
AUTORES:
Jorge Semião
;
Freijedo, J
;
Rodriguez J R Andina
;
Vargas, F
;
Santos, MB
;
Teixeira, IC
;
Teixeira, JP
;
PUBLICAÇÃO:
2007
,
FONTE:
IEEE-Computer-Society Annual Symposium on VLSI
in
IEEE COMPUTER SOCIETY ANNUAL SYMPOSIUM ON VLSI, PROCEEDINGS: EMERGING VLSI TECHNOLOGIES AND ARCHITECTURES
INDEXADO EM:
Scopus
WOS
CrossRef
NO MEU:
ORCID
|
ResearcherID
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CIÊNCIAVITAE
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