João Paulo Cacho Teixeira
AuthID: R-000-7A4
121
TÃTULO: Investigating the use of BICS to detect resistive- open defects in SRAMs
AUTORES: Chipana, R; Bolzani, L; Vargas, F; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, J; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 16th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010 in Proceedings of the 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010
AUTORES: Chipana, R; Bolzani, L; Vargas, F; Jorge Semião ; Rodriguez Andina, J; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 16th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010 in Proceedings of the 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010
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TÃTULO: On restoring data coherence in a GALS system for medical imaging
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Lousã, P; Bugalho, R; Ferreira, M; Rodrigues, P; Silva, JC; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems, LASCAS 2010 in Proceedings - 2010 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems, LASCAS 2010
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Lousã, P; Bugalho, R; Ferreira, M; Rodrigues, P; Silva, JC; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems, LASCAS 2010 in Proceedings - 2010 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems, LASCAS 2010
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TÃTULO: On Restoring Data Coherence in a GALS System for Medical Imaging
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Lousa, P; Bugalho, R; Ferreira, M; Rodrigues, P; Silva, JC; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS) in 2010 FIRST IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (LASCAS)
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Lousa, P; Bugalho, R; Ferreira, M; Rodrigues, P; Silva, JC; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS) in 2010 FIRST IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (LASCAS)
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WOS124
TÃTULO: Delay Sensing for Parametric Variations and Defects Monitoring in Safety-Critical Applications
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Teixeira, IC; Santos, MB; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS) in 2010 FIRST IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (LASCAS)
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Ziesemer, AM; Reis, R; Teixeira, IC; Santos, MB; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 1st IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS) in 2010 FIRST IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (LASCAS)
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WOS125
TÃTULO: Programmable Aging Sensor for Automotive Safety-Critical Applications
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Teixeira, IC; Santos, MB; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE) in 2010 DESIGN, AUTOMATION & TEST IN EUROPE (DATE 2010)
AUTORES: Vazquez, JC; Champac, V; Teixeira, IC; Santos, MB; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE) in 2010 DESIGN, AUTOMATION & TEST IN EUROPE (DATE 2010)
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WOS126
TÃTULO: Built-In Clock Domain Crossing (CDC) Test and Diagnosis in GALS Systems
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Silva, JC; Lousa, P; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in PROCEEDINGS OF THE 13TH IEEE SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS
AUTORES: Leong, C; Machado, P; Bexiga, V; Teixeira, JP; Teixeira, IC; Silva, JC; Lousa, P; Varela, J;
PUBLICAÇÃO: 2010, FONTE: 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in PROCEEDINGS OF THE 13TH IEEE SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS
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WOS127
TÃTULO: Genetic effects and biotoxicity monitoring of occupational styrene exposure Full Text
AUTORES: Jose Rueff ; Joao P Teixeira; Luis Silva Santos; Jorge Francisco Gaspar ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: CLINICA CHIMICA ACTA, VOLUME: 399, NÚMERO: 1-2
AUTORES: Jose Rueff ; Joao P Teixeira; Luis Silva Santos; Jorge Francisco Gaspar ;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: CLINICA CHIMICA ACTA, VOLUME: 399, NÚMERO: 1-2
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TÃTULO: Delay-Fault Tolerance to Power Supply Voltage Disturbances Analysis in Nanometer Technologies Full Text
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 15th IEEE International On-Line Testing Symposium in 2009 15TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, J; Vargas, F; Santos, M ; Teixeira, I ; Teixeira, P;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: 15th IEEE International On-Line Testing Symposium in 2009 15TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM
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TÃTULO: Parameterization of convective boundary layer turbulence and clouds in atmospheric models
AUTORES: Soares, PMM; Teixeira, J; Miranda, PMA;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: Air Pollution and Turbulence: Modeling and Applications
AUTORES: Soares, PMM; Teixeira, J; Miranda, PMA;
PUBLICAÇÃO: 2009, FONTE: Air Pollution and Turbulence: Modeling and Applications
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TÃTULO: Genotoxic damage in pathology anatomy laboratory workers exposed to formaldehyde Full Text
AUTORES: Solange Costa; Patricia Coelho; Carla Costa ; Susana Silva; Olga Mayan; Luis Silva Santos; Jorge Gaspar ; Joao Paulo Teixeira;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: TOXICOLOGY, VOLUME: 252, NÚMERO: 1-3
AUTORES: Solange Costa; Patricia Coelho; Carla Costa ; Susana Silva; Olga Mayan; Luis Silva Santos; Jorge Gaspar ; Joao Paulo Teixeira;
PUBLICAÇÃO: 2008, FONTE: TOXICOLOGY, VOLUME: 252, NÚMERO: 1-3
