Surface Roughness and Fractal Analysis of Tio2 Thin Films by Dc Sputtering

AuthID
 P-01A-QMS
3
Author(s)
Eleutério, T
·
Meirelles, M
Tipo de Documento
Proceedings Paper
Year published
2025
Publicado
in CIC 2025
Páginas: 2
Indexing
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