Jorge Filipe Leal Costa Semião


AuthID: R-001-F67

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71
TÍTULO: Improving the tolerance of pipeline based circuits to power supply or temperature variations
AUTORES: Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems, DFT 2007 in Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
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72
TÍTULO: Improving tolerance to power-supply and temperature variations in synchronous circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodiriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 10th IEEE International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
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73
TÍTULO: On-line dynamic delay insertion to improve signal integrity in synchronous circuits
AUTORES: Jorge Semião ; Freijedo, J; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2007, FONTE: 13th IEEE International On-Line Testing Symposium in 13TH IEEE INTERNATIONAL ON-LINE TESTING SYMPOSIUM PROCEEDINGS
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74
TÍTULO: Dynamic fault detection in digital systems using dynamic voltage scaling and multi-temperature schemes
AUTORES: Rodriguez Irago, M; Andina, JJR; Vargas, F; Jorge Semião ; Teixeira, IC ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium in Proceedings - IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, VOLUME: 2006
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75
TÍTULO: Functional-oriented BIST of sequential circuits aiming at dynamic faults coverage
AUTORES: Guerreiro, F; Jorge Semião ; Pierce, A; Santos, MB; Teixeira, IM ; Teixeira, JP ;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 9th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems in Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, VOLUME: 2006
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76
TÍTULO: Functional-oriented BIST of Sequential Circuits Aiming at Dynamic Faults Coverage
AUTORES: Guerreiro, F; Jorge Semião ; Pierce, A; M.B Santos; I.M Teixeira;
PUBLICAÇÃO: 2006, FONTE: 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems
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77
TÍTULO: Improving the tolerance of pipeline based circuits to power supply or temperature variations
AUTORES: Jorge Semião ; Rodriguez Andina, JJ; Vargas, F; Santos, MB; Teixeira, IC; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 2005, FONTE: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems in DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS
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TÍTULO: Quality of electronic design: from architectural level to test coverage
AUTORES: O.P Dias; M.B Santos; J.P Teixeira; Jorge Semião ; I.M Teixeira;
PUBLICAÇÃO: 2002, FONTE: Proceedings IEEE 2000 First International Symposium on Quality Electronic Design (Cat. No. PR00525)
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TÍTULO: Test resource partitioning: a design & test issue
AUTORES: Teixeira, JP; Teixeira, IM; Pereira, CE; Dias, OP; Jorge Semião ;
PUBLICAÇÃO: 2001, FONTE: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2001) in DESIGN, AUTOMATION AND TEST IN EUROPE, CONFERENCE AND EXHIBITION 2001, PROCEEDINGS
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80
TÍTULO: From system level to defect-oriented test: A case study
AUTORES: Dias, OP; Jorge Semião ; Santos, MB; Teixeira, IM; Teixeira, JP;
PUBLICAÇÃO: 1999, FONTE: 1999 European Test Workshop, ETW 1999 in Proceedings - European Test Workshop 1999, ETW 1999
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